[发明专利]半导体结构及半导体结构的制造方法有效

专利信息
申请号: 202110117220.2 申请日: 2021-01-28
公开(公告)号: CN112909169B 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 吴宏旻;丁裕生 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L49/02 分类号: H01L49/02
代理公司: 北京律智知识产权代理有限公司 11438 代理人: 李建忠;阚梓瑄
地址: 230601 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 半导体 结构 制造 方法
【说明书】:

发明涉及半导体技术领域,提出了一种半导体结构及半导体结构的制造方法。半导体结构包括衬底,衬底中形成有电容结构,电容结构包括下极板、介质层、上极板以及保护层,下极板位于衬底上;介质层覆盖在下极板的表面;上极板覆盖介质层;保护层形成在上极板平行于衬底的表面。通过在上极板的上表面形成的保护层能够改善电容结构的电阻性能,以此改善半导体结构的使用性能。

技术领域

本发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体结构及半导体结构的制造方法。

背景技术

相关技术中,在半导体结构中形成的电容结构与插塞,由于电容结构本身的限定,形成的插塞与电容结构之间的接触电阻较大,影响半导体结构的使用性能。

发明内容

本发明提供一种半导体结构及半导体结构的制造方法,以改善半导体结构的性能。

根据本发明的第一个方面,提供了一种半导体结构,包括衬底,衬底中形成有电容结构,电容结构包括:

下极板,下极板位于衬底上;

介质层,介质层覆盖在下极板的表面;

上极板,上极板覆盖介质层;

保护层,保护层形成在上极板平行于衬底的表面。

在本发明的一个实施例中,保护层包括金属硅化物。

在本发明的一个实施例中,保护层具有掺杂元素,掺杂元素与上极板反应生成保护层。

在本发明的一个实施例中,上极板包括多晶硅,掺杂元素包括镍、钴、钛、铜、钼、钽、钨中的至少一种。

在本发明的一个实施例中,上极板包括上电极和上电极填充层,上电极覆盖介质层的表面,上电极填充层覆盖上电极。

在本发明的一个实施例中,上电极填充层为多晶硅。

在本发明的一个实施例中,电容结构为柱状电容结构、杯状电容结构或沟槽式电容结构。

在本发明的一个实施例中,上极板的外侧面具有凹凸侧面结构,半导体结构还包括:氧化层,氧化层覆盖在上极板以及保护层的表面,并填充凹凸侧面结构中的空隙。

在本发明的一个实施例中,半导体结构还包括:插塞,插塞位于衬底上,且与上极板间隔设置。

根据本发明的第二个方面,提供了一种半导体结构的制造方法,包括提供衬底,在衬底中形成电容结构,形成电容结构包括:

在衬底上形成下极板;

在下极板的表面形成介质层;

在介质层的表面形成上极板;

在上极板平行于衬底的表面形成保护层。

在本发明的一个实施例中,掺杂元素与上极板反应生成保护层。

在本发明的一个实施例中,生成保护层包括:

对上极板外表面进行掺杂离子处理后退火生成保护层。

在本发明的一个实施例中,生成保护层包括:

在上极板上形成金属材料层;

使金属材料层与上极板反应生成保护层。

在本发明的一个实施例中,形成电容结构还包括:

形成金属材料层之前,

在上极板的表面形成旋涂碳层,并露出上极板的上部;

其中,金属材料层形成于旋涂碳层上,并覆盖上极板平行于衬底的表面。

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