[发明专利]检测方法及装置

说明书

本申请公开了一种检测方法及装置，应用于可折叠电子设备，所述电子设备的折叠区设置有应变片，所述应变片随着所述电子设备的折叠而发生形变，所述检测方法包括：获取所述应变片的第一电阻和第二电阻，所述第一电阻为所述电子设备在第一状态下所述应变片的电阻，所述第二电阻为所述电子设备在第二状态下所述应变片的电阻；根据所述第一电阻和所述第二电阻，确定所述电子设备从所述第一状态到所述第二状态的折叠角度。本申请通过获取应变片的第一电阻和第二电阻能够准确地计算出电子设备在第一状态到第二状态下的折叠角度。

技术领域

本申请属于可折叠电子设备技术领域，具体涉及一种检测方法及装置。

背景技术

随着柔性屏技术的不断发展，更多设备采用了柔性屏技术，并根据柔性屏可折叠的特性结合不同的功能形成了不同的可折叠电子设备。电子设备一般通过设置转轴实现转动折叠的功能，从而使电子设备绕转轴实现任意角度的弯折。折叠屏转动的角度是可折叠的电子设备的一个重要指标，通过角度的变化能够与设备中的一些应用的功能的实现对应起来，提高电子设备的适用性。因此，如何准确地测得折叠角度是需要解决的问题。

发明内容

本申请实施例的目的是提供一种检测方法，能够解决如何准确地测得折叠角度的问题。

为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：

第一方面，本申请实施例提供了一种检测方法，应用于可折叠电子设备，所述电子设备的折叠区设置有应变片，所述应变片随着所述电子设备的折叠而发生形变，所述检测方法包括：

获取所述应变片的第一电阻和第二电阻，所述第一电阻为所述电子设备在第一状态下所述应变片的电阻，所述第二电阻为所述电子设备在第二状态下所述应变片的电阻；

根据所述第一电阻和所述第二电阻，确定所述电子设备从所述第一状态到所述第二状态的折叠角度。

第二方面，本申请实施例提供了一种检测装置，该检测装置应用于可折叠电子设备，所述电子设备的折叠区设置有应变片，所述应变片随着所述电子设备的折叠而发生形变，所述装置包括：

获取模块，用于获取所述应变片的第一电阻和第二电阻，所述第一电阻为所述电子设备在第一状态下所述应变片的电阻，所述第二电阻为所述电子设备在第二状态下所述应变片的电阻；

确定模块，用于根据所述第一电阻和所述第二电阻，确定所述电子设备从所述第一状态到所述第二状态的折叠角度。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，其中，该电子设备包括处理器，存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令，所述程序或指令被所述处理器执行时实现如第一方面所述的检测方法的步骤。

第四方面，本申请实施例提供了一种可读存储介质，其中，所述可读存储介质上存储程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时实现如第一方面所述的检测方法的步骤。

第五方面，本申请实施例提供了一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行程序或指令，实现如第一方面所述的方法。

在本申请实施例中，通过获取应变片的第一电阻和第二电阻能够准确地计算出电子设备在第一状态到第二状态下的折叠角度。

附图说明

图1是本申请一个实施例中折叠屏上设置第一应变片的正面结构示意图。

图2是本申请一个实施例中折叠屏上设置第一应变片的侧面结构示意图。

图3是本申请一个实施例中电子设备从未折叠状态到折叠角度为θ状态时的示意图。

图4是本申请一个实施例中电子设备上设置了第一应变片和第二应变片的正面结构示意图。