[发明专利]一种低膨胀硅负极材料在审

专利信息
申请号: 202110093876.5 申请日: 2021-01-25
公开(公告)号: CN114792782A 公开(公告)日: 2022-07-26
发明(设计)人: 陈青华;刘江平;姚林林;房冰 申请(专利权)人: 兰溪致德新能源材料有限公司
主分类号: H01M4/36 分类号: H01M4/36;H01M4/38;H01M4/583;H01M4/62;H01M10/0525
代理公司: 北京久诚知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11542 代理人: 余罡
地址: 321100 浙江省金华*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 膨胀 负极 材料
【说明书】:

本申请提供了一种低膨胀的硅负极材料,包括多孔碳、纳米硅、导电碳和离子导体材料,所述多孔碳的孔包括开孔和闭孔;以所述开孔和所述闭孔的总数量为100%计,所述开孔数量占比为80~99.9%。多孔碳提供了连续导电通道,闭孔可缓冲部分体积膨胀,而开孔用于容纳纳米硅材料,也预留了部分孔隙用于进一步缓解体积膨胀,保证材料的低膨胀率;纳米硅保证了材料高比容量,导电碳进一步提高材料的电子电导性,离子导体则可提供了更多的导离子通道,同时隔绝电解液,阻止副反应的发生。本申请提供的硅负极材料,具有较低的膨胀率,优异的循环和倍率性能。

技术领域

发明属于电池材料领域,具体涉及一种低膨胀硅负极材料。

背景技术

近年来,为满足产品多功能化的需求,人们对电池的续航时间、安全性及快充等性能提出越来越高的要求。硅材料因具有比容量高、安全性好、原料来源丰富等优点,被认为是新型高性能锂离子电池负极材料。但是,硅材料在充放电过程中因锂合金化会产生巨大的体积膨胀,造成硅活性颗粒的粉化失效,同时硅粒子开裂粉化使活性粒子间与集流体间电接触不良形成“孤岛效应”,断裂面反复形成新的 SEI 膜诱发不可逆容量持续损失的问题,制约了硅基材料产业化应用。

发明内容

为解决上述问题,本申请提供了一种低膨胀硅负极材料,以多孔碳为模板,将纳米硅负载于其孔隙内部或表面,形成3D互穿结构,同时在多孔碳和纳米硅表面形成导电碳及离子导体材料包覆,综合开孔和闭孔、孔径、孔隙率等优化,给硅材料在充放电过程中的体积膨胀提供缓冲空间。

在一些实施例中,本申请提供了一种低膨胀硅负极材料,包括多孔碳/石墨、纳米硅、导电碳和离子导体材料,所述多孔碳/石墨的孔包括开孔和闭孔;以所述开孔和所述闭孔的总数量为100%计,所述开孔数量占比为80~99.9%。

本申请的有益效果在于,以多孔碳为模板,将纳米硅负载于其孔隙内部或表面,多孔碳提供连续导电子通道,纳米硅材料保证了负极材料的高容量密度;综合多孔碳的开孔和闭孔、孔径、孔隙率等优化,可大大缓冲硅材料的体积膨胀。此外,多孔碳外表面还包覆有导电碳和离子导体材料层双层包覆,一方面可提高电子电导率和离子电导率,另一方面可阻止电解液与活性物质直接接触,从而提高材料的电化学性能。

本申请实施例的额外层面及优点将在后续说明中描述和显示,或是经由本申请实施例的实施而阐释。

附图说明

图1为本申请某一实施例的结构示意图;

图2为本申请另一实施例的结构示意图;

图3为本申请某一实施例的结构示意图;

图4为本申请另一实施例的结构示意图。

具体实施方式

本申请的实施例将会被详细的描述在下文中。本申请的实施例不应该被解释为对本申请的限制。

在本申请中,以范围格式呈现量、比率和其他数值,应理解,此类范围格式是用于便利及简洁起见,且应灵活地理解,不仅包含明确地指定为范围限制的数值,而且包含涵盖于所述范围内的所有个别数值或子范围,如同明确地指定每一数值及子范围一般。

在权利要求书及具体实施方式中,由术语“中的至少一种”或其他相似术语所连接的项目的列表可意味着所列项目的任何组合。例如,如果列出项目A及B,那么短语“A及B中的至少一种”意味着仅A;仅B;或A及B。项目A可包含单个元件或多个元件,项目B可包含单个元件或多个元件。

在本申请中,Dv50为材料累计体积百分数达到50%时所对应的粒径。

本实施例提供了一种低膨胀硅负极材料,包括多孔碳、纳米硅、导电碳和离子导体材料,所述多孔碳的孔包括开孔和闭孔,开孔孔隙用于容纳纳米硅材料,而闭孔可用于缓冲硅的体积膨胀;以所述开孔和所述闭孔的总数量为100%计,所述开孔数量占比为80~99.9%,优选地为85~95%,若开孔数量过小,则能容纳的纳米硅材料太少,会影响材料的容量密度。

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