[发明专利]芯片封装结构及封装方法在审

专利信息
申请号: 202110093871.2 申请日: 2021-01-22
公开(公告)号: CN112768412A 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 张方砚;李明志;张成强 申请(专利权)人: 山东贞明半导体技术有限公司
主分类号: H01L23/043 分类号: H01L23/043;H01L23/08;H01L23/495;H01L23/367;H01L21/52
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 魏润洁
地址: 261000 山东省潍坊市*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 芯片 封装 结构 方法
【权利要求书】:

1.一种芯片封装结构,其特征在于,包括:框架、线材和设置在所述框架与芯片之间的银浆胶体,所述框架设有容置凹槽,所述芯片置于所述容置凹槽内,所述芯片通过银浆胶体与所述框架经过预设高温无氧烘烤工艺粘接固化为一体,且所述芯片通过所述线材与所述框架电连接。

2.根据权利要求1所述的芯片封装结构,其特征在于,所述芯片封装结构还包括:通过胶体封装形成的塑封外壳,所述芯片及框架塑封在所述塑封外壳内,且所述框架外缘预留有引脚。

3.根据权利要求2所述的芯片封装结构,其特征在于,封装胶体外壳长度设计为8.63±0.05mm,宽度设计为3.9±0.05mm,厚度设计为1.45±0.05mm。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的芯片封装结构,其特征在于,所述芯片上设有功能焊点,所述芯片的功能焊点通过所述线材与所述框架上的内引线电连接。

5.根据权利要求2所述的芯片封装结构,其特征在于,所述引脚间距设计为0.58mm;和/或,所述引脚表面镀有锡层。

6.一种芯片封装方法,其特征在于,包括以下步骤:

封装前制程,使用打磨工艺,在保护剂的作用下,使制作芯片的原片的厚度达到预定芯片厚度,将打磨后的原片切割至预定芯片大小,获得芯片部分;通过冲压设备对框架材料进行加工,再经过电镀设备及表面处理工艺进行处理,得到框架;

装片工序,通过装片工艺,经过银浆胶体将所述芯片粘黏至框架之上,并经过预设温度无氧烘烤工艺使银浆胶体、芯片、框架三者固化为一体;

使用焊线设备,将所述芯片的功能焊点通过线材连接至所述框架之上的内引线;

将焊线后的框架通过塑封进行外壳塑型,建立芯片保护外壳,并在框架外缘预留引脚,然后再次以预设温度烘烤,得到烘烤后的芯片产品。

7.根据权利要求6所述的芯片封装方法,其特征在于,所述方法还包括:

对烘烤后的芯片产品进行表面处理工艺,在所述引脚表面镀上锡层。

8.根据权利要求7所述的芯片封装方法,其特征在于,所述方法还包括:

对表面处理后的芯片产品进行激光刻字,标识其品名型号;

将经过以上制程的芯片产品使用冲压设备塑造外引线形状与尺寸,形成最终需求的成品。

9.根据权利要求7所述的芯片封装方法,其特征在于,所述预定芯片厚度为200um-280um,封装胶体外壳长度设计为8.63±0.05mm,宽度设计为3.9±0.05mm,厚度设计为1.45±0.05mm。

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