[发明专利]缺陷检测设备及其检测方法

说明书

本申请提供一种缺陷检测设备及其检测方法，缺陷检测设备包括机架及均设于机架上的进料输送装置、粗定位测量装置、上料搬运装置、纠偏调整装置、精定位测量装置、线扫移动装置、线扫检测装置及下料搬运装置；进料输送装置将工件输送至粗定位测量装置的拍摄视野范围内，粗定位测量装置识别工件上的标识信息并拍摄获取工件的粗定位数据，上料搬运装置将工件搬运至纠偏调整装置再搬运至线扫移动装置；纠偏调整装置对工件纠偏调整，精定位测量装置拍摄获取工件精定位数据；线扫移动装置根据线扫轨迹规划数据控制工件移动，线扫检测装置对工件进行拍摄扫描检测并生成线扫描图像数据用于缺陷检测，下料搬运装置将工件搬运至良品下料工位或次品下料工位。

技术领域

本申请涉及缺陷检测检测的技术领域，尤其涉及一种缺陷检测设备及其检测方法。

背景技术

随着科技和经济的不断发展，手机已经成了人们日常生活的必备物品。而在手机的生产中，手机中框作为支撑整部手机的框架，为了与其它手机组件配合，手机的中框需经过多次加工处理，手机中框的加工精度在很大程度上影响着手机的品控。为了提高对手机生产的品控，必然需要对手机中框的外观进行检测。目前，手机中框外观的检测大部分还采用人工目检的方法，少量采用设备检测来代替人工目检。

其中，人工目检不但效率低下，而且人为检测精度差，细微缺陷就难以检测出来，容易出现漏检，无法保障手机中框检测的准确性。

再者，现有的设备检测，结构复杂，仍需要人为控制设备来进行检测，现有技术对加工处理后的手机中框进行检测通常通过光学影像测量仪，进行微小尺寸、R角、缺陷的检测等。普遍存在人为控制仪器进行检测，精度无法保证的缺点；而且，手机中框每移动一次，就拍摄一次，一个手机中框需要移动启停七八次才能拍完，造成要进行多次拍摄测量，操作繁琐复杂，拍摄用时过长，效率极低，仍然容易出现漏检，无法保障手机中框检测的准确性，已难于满足高效高精度的生产需求。

因此，急需要一种缺陷检测设备来克服上述存在的问题。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种缺陷检测设备，该缺陷检测设备具有结构简单紧凑、检测效率高及检测准确性高的优点。

本申请实施例的另一目的在于提供一种缺陷检测设备的检测方法，该缺陷检测设备的检测方法具有检测效率高及检测准确性高的优点。

为实现上述目的，本申请实施例的第一方面提供了一种缺陷检测设备，包括：机架及均设于所述机架上的进料输送装置、粗定位测量装置、上料搬运装置、纠偏调整装置、精定位测量装置、线扫移动装置、线扫检测装置及下料搬运装置；

所述进料输送装置将待检测的工件输送至所述粗定位测量装置的拍摄视野范围内；

所述粗定位测量装置识别所述工件上的标识信息，并拍摄获取所述工件的粗定位数据；

所述纠偏调整装置根据所述粗定位数据对所述工件进行纠偏调整，使得所述工件在所述精定位测量装置的拍摄视野范围内；

所述精定位测量装置拍摄获取纠偏后的所述工件的精定位数据，用于生成线扫轨迹规划数据；

所述上料搬运装置将所述粗定位测量装置完成识别和粗定位拍摄后的所述工件搬运至所述纠偏调整装置上，以及将所述精定位测量装置完成精定位拍摄后的所述工件搬运至所述线扫移动装置上；

所述线扫移动装置根据所述线扫轨迹规划数据控制所述工件移动；

所述线扫检测装置对移动中的所述工件进行拍摄扫描检测，并生成线扫描图像数据用于缺陷检测判断所述工件为良品或次品；

所述下料搬运装置的一端分布有良品下料工位，所述下料搬运装置的另一端分布有次品下料工位，所述下料搬运装置将判断为良品的所述工件搬运至所述良品下料工位上或将判断为次品的所述工件搬运至所述次品下料工位上。