[发明专利]缺陷检测设备及其检测方法

权利要求书

1.一种缺陷检测设备，其特征在于，包括：机架及均设于所述机架上的进料输送装置、粗定位测量装置、上料搬运装置、纠偏调整装置、精定位测量装置、线扫移动装置、线扫检测装置及下料搬运装置；

所述进料输送装置将待检测的工件输送至所述粗定位测量装置的拍摄视野范围内；

所述粗定位测量装置识别所述工件上的标识信息，并拍摄获取所述工件的粗定位数据；

所述纠偏调整装置根据所述粗定位数据对所述工件进行纠偏调整，使得所述工件在所述精定位测量装置的拍摄视野范围内；

所述精定位测量装置拍摄获取纠偏后的所述工件的精定位数据，用于生成线扫轨迹规划数据；

所述上料搬运装置将所述粗定位测量装置完成识别和粗定位拍摄后的所述工件搬运至所述纠偏调整装置上，以及将所述精定位测量装置完成精定位拍摄后的所述工件搬运至所述线扫移动装置上；

所述线扫移动装置根据所述线扫轨迹规划数据控制所述工件移动；

所述线扫检测装置对移动中的所述工件进行拍摄扫描检测，并生成线扫描图像数据用于缺陷检测判断所述工件为良品或次品；

所述下料搬运装置的一端分布有良品下料工位，所述下料搬运装置的另一端分布有次品下料工位，所述下料搬运装置将判断为良品的所述工件搬运至所述良品下料工位上或将判断为次品的所述工件搬运至所述次品下料工位上；

所述线扫检测装置包括：第一安装架、第一升降安装座、第一转动安装座、第一线扫相机、第二升降安装座、第二转动安装座、第二线扫相机、第一光源及第二光源，

所述第一安装架呈可竖直转动调整的设于所述机架上；

所述第一升降安装座呈安装位置可竖直升降调整的设于所述第一安装架上，所述第一转动安装座呈安装角度可水平转动调整的设于所述第一升降安装座上，所述第一线扫相机沿垂直所述第一转动安装座之转动轴心线的方向呈安装位置可移动调整设于所述第一转动安装座上；

所述第二升降安装座呈安装位置可竖直升降调整的设于所述第一安装架上，所述第二转动安装座呈安装角度可水平转动调整的设于所述第二升降安装座上，所述第二线扫相机沿垂直所述第二转动安装座之转动轴心线的方向呈安装位置可移动调整设于所述第二转动安装座上；

所述第二线扫相机位于所述第一线扫相机的下方；

所述第一光源设于所述线扫移动装置上，所述第一光源由下往上照射于所述线扫移动装置所移动的所述工件上；

所述第二光源呈安装位置可调整的设于所述机架上，所述第二光源位于所述线扫移动装置所移动的所述工件的一侧，且所述第二光源照射于所述线扫移动装置所移动的所述工件上。

2.如权利要求1所述的缺陷检测设备，其特征在于，所述线扫移动装置包括：第二安装架、XYR三轴运动平台及用于承载固定所述工件的第一承载固定机构，所述第二安装架固定于所述机架上，所述XYR三轴运动平台设于所述第二安装架上，所述第一承载固定机构设于所述XYR三轴运动平台上，所述XYR三轴运动平台可驱使所述第一承载固定机构沿两相互垂直的水平方向移动及绕一竖直的轴心线转动；所述第一光源设于所述XYR三轴运动平台上，所述第二光源位于所述第一承载固定机构所承载固定的所述工件的一侧。

3.如权利要求1所述的缺陷检测设备，其特征在于，所述粗定位测量装置包括：第一安装座、第一XYZ三轴调节机构、第一检测相机及第三光源，所述第一安装座固定于所述机架上，所述第一XYZ三轴调节机构设于所述第一安装座上，所述第一检测相机设于所述第一XYZ三轴调节机构上；所述进料输送装置上分布有粗定位检测工位，所述第一检测相机朝向所述粗定位检测工位上；所述第三光源固定于所述机架上，且所述第三光源由上往下照射于所述粗定位检测工位上。

4.如权利要求1所述的缺陷检测设备，其特征在于，所述纠偏调整装置包括：第三安装架、XR两轴运动平台及用于承载固定所述工件的第二承载固定机构，所述第三安装架固定于所述机架上，所述XR两轴运动平台设于所述第三安装架上，所述第二承载固定机构设于所述XR两轴运动平台上，所述XR两轴运动平台可驱使所述第二承载固定机构沿一水平方向移动及绕一竖直的轴心线转动。