[发明专利]半导体集成电路及半导体存储装置在审

专利信息
申请号: 202110074377.1 申请日: 2021-01-20
公开(公告)号: CN113658621A 公开(公告)日: 2021-11-16
发明(设计)人: 清水优;井上谕;藤沢公;高田由美 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: G11C7/12 分类号: G11C7/12;G11C7/18;G11C8/14
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 集成电路 存储 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体集成电路,

具备输入电路,所述输入电路具有第1放大器、及电连接于所述第1放大器的第2放大器,且

所述第2放大器

具有:

第1晶体管,栅极电连接于所述第1放大器的第1节点;

第2晶体管,栅极电连接于所述第1放大器的第2节点;

第3晶体管,配置在所述第1晶体管的漏极侧;

第4晶体管,配置在所述第2晶体管的漏极侧;及

时间常数附加电路,电连接于所述第3晶体管的栅极与所述第3晶体管的漏极及所述第4晶体管的栅极之间。

2.根据权利要求1所述的半导体集成电路,其中

所述时间常数附加电路具有电阻元件,所述电阻元件的一端电连接于所述第3晶体管的栅极,另一端电连接于所述第3晶体管的漏极及所述第4晶体管的栅极。

3.根据权利要求2所述的半导体集成电路,其中

所述时间常数附加电路进而具有电容元件,所述电容元件的一端电连接于所述第3晶体管的栅极。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体集成电路,其中

所述第3晶体管及所述第4晶体管经由所述时间常数附加电路构成电流镜电路。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体集成电路,其中

所述第1放大器

具有:

第5晶体管,漏极电连接于所述第1节点,且利用栅极接收参照信号;及

第6晶体管,漏极电连接于所述第2节点,且利用栅极接收数据信号。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体集成电路,其中

所述第1放大器

具有:

第5晶体管,漏极电连接于所述第1节点,且利用栅极接收第1数据信号;及

第6晶体管,漏极电连接于所述第2节点,且利用栅极接收第2数据信号。

7.根据权利要求1至3中任一项所述的半导体集成电路,其

进而具备电连接于所述第2放大器的反相器。

8.一种半导体存储装置,其具备:

存储单元阵列、及

配置在所述存储单元阵列的周边的根据权利要求1至7中任一项所述的半导体集成电路。

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