[发明专利]协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片

说明书

本发明公开了一种协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片。该协议转换桥接电路包括：相连的协议转换驱动电路和控制信号转换电路；协议转换驱动电路，用于从TAP控制器中接收处于JTAG时钟域的JTAG功能测试信号，并将JTAG功能测试信号转换为处于NOC时钟域的NOC功能测试信号；控制信号转换电路，用于接收NOC功能测试信号，并根据所述NOC功能测试信号，生成至少一项功能测试信息；根据至少一项功能测试信息，生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号。本发明实施例的技术方案实现了通过JTAG管脚接收的管脚输入信号，对芯片内各IP核进行功能性测试的技术效果。

技术领域

本发明实施例涉及计算机硬件技术，具体涉及芯片测试技术，尤其涉及一种协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片。

背景技术

随着高性能，大规模芯片的功能日益趋向复杂，同一颗芯片内部可能会同时搭载几十、甚至上百个IP（Intellectual Property，知识产权）核。这种复杂的高性能芯片，对测试机台以及板级测试、调试提出了更高的要求。

传统的芯片内部的JTAG（Joint Test Action Group，联合测试工作组）网络和测试逻辑如图1a所示，在图1a中，芯片通过JTAG管脚接收JTAG管脚输入信号，由测试访问口（Test Access Port，TAP）控制器将该JTAG管脚输入信号转换为对应的JTAG测试信号后，经由JTAG网络发送至芯片中的一个或者多个IP核进行结构性测试。示例性的，对IP核内的制作测试控制逻辑进行测试。测试这部分逻辑的主要目的是在测试机台上发现芯片在生产加工中出现的各种结构性问题。

发明人在实现本发明的过程中发现：传统意义上的JTAG传输协议以及芯片内部的JTAG网络已经无法满足复杂的高性能芯片在测台以及板级等各个环境中更加复杂的，多变的调试测试要求。

发明内容

本发明实施例提供了一种协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片，以通过JTAG管脚接收的管脚输入信号，对芯片内各IP核进行功能性测试。

第一方面，本发明实施例提供了一种协议转换桥接电路，包括：相连的协议转换驱动电路和控制信号转换电路；

协议转换驱动电路，用于从TAP控制器中接收处于JTAG时钟域的JTAG功能测试信号，并将JTAG功能测试信号转换为处于NOC（Network On Chip，片上网络）时钟域的NOC功能测试信号；

控制信号转换电路，用于接收NOC功能测试信号，并根据所述NOC功能测试信号，生成至少一项功能测试信息；根据至少一项功能测试信息，生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号。

进一步的，所述协议转换驱动电路包括：数据写入模块、数据读取模块以及第一类配置寄存器；

数据写入模块，用于按照JTAG时钟域，从TAP控制器中接收JTAG功能测试信号，并按照NOC时钟域，将JTAG功能测试信号写入至第一类配置寄存器中；

数据读取模块，用于根据在第一类配置寄存器中预先配置的NOC参数，从第一类配置寄存器中读取得到与所述JTAG功能测试信号匹配的NOC功能测试信号。

进一步的，所述协议转换驱动电路还包括：分别与数据写入模块和数据读取模块相连的状态记录模块；

所述状态记录模块，用于记录所述数据写入模块以及所述数据读取模块的读写操作状态。

进一步的，所述控制信号转换电路，包括：相连的功能测试信息生成模块和标准功能测试信号生成模块；

功能测试信息生成模块，用于接收所述NOC功能测试信号，并根据所述NOC功能测试信号生成至少一项功能测试信息；

标准功能测试信号生成模块，用于根据至少一项功能测试信息，生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号。