[发明专利]协议转换桥接电路、知识产权核以及系统级芯片有效
| 申请号: | 202110072497.8 | 申请日: | 2021-01-20 |
| 公开(公告)号: | CN112395228B | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
| 发明(设计)人: | 马海英 | 申请(专利权)人: | 北京燧原智能科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F13/38 | 分类号: | G06F13/38;G06F13/40;G06F11/263;G06F15/78 |
| 代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
| 地址: | 100191 北京市海淀区知春路23*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 协议 转换 电路 知识产权 以及 系统 芯片 | ||
1.一种协议转换桥接电路,其特征在于,包括:相连的协议转换驱动电路和控制信号转换电路;
协议转换驱动电路,用于从测试访问口TAP控制器中接收处于联合测试工作组JTAG时钟域的JTAG功能测试信号,并将JTAG功能测试信号转换为处于片上网络NOC时钟域的NOC功能测试信号;
控制信号转换电路,用于接收NOC功能测试信号,并根据所述NOC功能测试信号,生成至少一项功能测试信息;根据至少一项功能测试信息,生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号;
其中,所述协议转换驱动电路包括:数据写入模块、数据读取模块以及第一类配置寄存器;
数据写入模块,用于按照JTAG时钟域,从TAP控制器中接收JTAG功能测试信号,并按照NOC时钟域,将JTAG功能测试信号写入至第一类配置寄存器中;
数据读取模块,用于根据在第一类配置寄存器中预先配置的NOC参数,从第一类配置寄存器中读取得到与所述JTAG功能测试信号匹配的NOC功能测试信号。
2.根据权利要求1所述的协议转换桥接电路,其特征在于,所述协议转换驱动电路还包括:分别与数据写入模块和数据读取模块相连的状态记录模块;
所述状态记录模块,用于记录所述数据写入模块以及所述数据读取模块的读写操作状态。
3.根据权利要求1所述的协议转换桥接电路,其特征在于,所述控制信号转换电路,包括:相连的功能测试信息生成模块和标准功能测试信号生成模块;
功能测试信息生成模块,用于接收所述NOC功能测试信号,并根据所述NOC功能测试信号生成至少一项功能测试信息;
标准功能测试信号生成模块,用于根据至少一项功能测试信息,生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号。
4.根据权利要求3所述的协议转换桥接电路,其特征在于,所述功能测试信息生成模块为第二类配置寄存器;
所述第二类配置寄存器,具体用于:在接收到所述NOC功能测试信号后,根据预先设置的测试信号配置参数和所述NOC功能测试信号,形成并输出至少一项功能测试信息;各所述功能测试信息与NOC标准协议相适配。
5.根据权利要求3所述的协议转换桥接电路,其特征在于,所述标准功能测试信号生成模块为状态机;
其中,所述状态机开始运转后,将所述至少一项功能测试信息转换为先进可扩展接口AXI码流,并将所述AXI码流发送至NOC网络中进行传输。
6.根据权利要求1所述的协议转换桥接电路,其特征在于,还包括:与控制信号转换电路相连的通用NOC接口;
所述通用NOC接口,用于将控制信号转换电路生成的标准功能测试信号,传输至NOC网络中。
7.一种知识产权IP核,其特征在于,包括:如权利要求1-6任一项所述的协议转换桥接电路。
8.根据权利要求7所述的IP核,其特征在于,所述IP核为中央测试控制IP核。
9.一种系统级芯片,其特征在于,包括:测试访问口TAP控制器、片上网络NOC路由器、至少一个标准知识产权IP核和如权利要求8所述的中央测试控制IP核;
各标准IP核和中央测试控制IP核通过TAP控制器,形成片上的JTAG网络,各标准IP核和中央测试控制IP核通过NOC路由器,形成片上的NOC网络;
所述中央测试控制IP核,用于从TAP控制器中接收处于JTAG时钟域的JTAG功能测试信号,并将JTAG功能测试信号转换为处于NOC时钟域的NOC功能测试信号;根据所述NOC功能测试信号,生成至少一项功能测试信息,根据至少一项功能测试信息,生成符合NOC标准协议的标准功能测试信号,并将所述标准功能测试信号发送至所述NOC路由器;
所述NOC路由器,用于通过所述NOC网络,将所述标准功能测试信号发送至所述标准功能测试信号所指向的标准IP核;
所述标准IP核,用于在接收到标准功能测试信号时,执行匹配的功能性测试。
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