[发明专利]一种阵列稀疏方法有效
申请号: | 202110031812.2 | 申请日: | 2021-01-11 |
公开(公告)号: | CN112882039B | 公开(公告)日: | 2023-01-03 |
发明(设计)人: | 张晗;郑剑锋;白碧超;王峰;沈立峰;林振源 | 申请(专利权)人: | 中国科学院声学研究所;中国农业大学;常州大学 |
主分类号: | G01S15/89 | 分类号: | G01S15/89;G01S7/52;G06F17/15 |
代理公司: | 深圳市优赛朝闻专利代理事务所(普通合伙) 44454 | 代理人: | 罗仲辉 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 阵列 稀疏 方法 | ||
本申请公开了一种阵列稀疏方法,该方法包括利用全聚焦算法采集阵列数据,并获取所有的激发接收组合;基于所述阵列数据和所述激发接收组合,利用二元粒子群算法计算所述阵列的方向图,并稀疏所述阵列。本申请通过二元粒子群算法,优化了阵列中各元件的布局,使得稀疏阵列不仅具有比参考全阵列更好的成像质量,而且还能够提高全矩阵捕捉或者总聚焦法效率。
技术领域
本发明一般涉及超声检测技术领域,具体涉及一种阵列稀疏方法。
背景技术
超声相控阵技术的基本思想源于雷达电磁波相控阵技术,而相控阵雷达由大量子天线阵列按照一定规则或者形状组合排列,其通过控制每个子天线阵列所发射电磁束的幅度和相位,以在一定时空范围内形成灵活可变的聚焦雷达波束。超声相控阵是由多个压电换能器元件组成的换能器阵列,可以实现超声波的相位控制。
目前,相关技术中总聚焦法(TFM)使用全阵列采集,这意味着单个阵列元素会激发所有阵列元素以进行接收,并且每个阵列元素都会依次触发,直到使用激发和接收的所有组合来获取完整的检测信息为止。在后处理阶段,通过灵活地延迟设置并重构各种相声束,以实现在检查区域中聚焦成像任何位置。
然而,在实现本发明的过程中,发明人发现相关技术中至少存在如下问题:高分辨率超声相控阵检测系统的换能器阵列孔径较大,元件之间距离小于波长的一半,同时所需阵列元件数量很多,硬件成本高昂,以及总聚焦法计算过于耗时,具有局限性。
发明内容
鉴于相关技术中的上述缺陷或不足,期望提供一种阵列稀疏方法,在不降低声音场特性的情况下,能够将阵列稀疏到合适水平,使得优化后的稀疏阵列比参考全阵列具有更好的性能,同时提高处理效率。
本申请提供一种阵列稀疏方法,所述方法包括:
利用全聚焦算法采集阵列数据,并获取所有的激发接收组合;
基于所述阵列数据和所述激发接收组合,利用二元粒子群算法计算所述阵列的方向图,并稀疏所述阵列。
可选地,在本申请一些实施例中,所述二元粒子群算法通过如下步骤求解,包括:
根据每个粒子的速度和位置,计算各所述粒子对应的适应度值;
根据所述适应度值,计算各所述粒子的局部最优值以及整个群体的全局最优值;
根据所述全局最优值,对所述粒子进行速度更新和位置更新。
可选地,在本申请一些实施例中,所述粒子的位置更新通过下式进行计算:
其中,S(vjk(t))表示第j个粒子的第k个维度在第t次迭代中状态更新的概率。
可选地,在本申请一些实施例中,所述全聚焦算法包括:
全矩阵采集模型,用于激发单个阵元,所有阵元同时接收,依次进行直到获取所有的激发接收组合;
二维全聚焦成像几何模型,其中一维线性阵列探头设置于二维各向同性均匀介质表面,点缺陷位于所述介质内部,成像区域位于所述阵列下方。
可选地,在本申请一些实施例中,所述单个阵元的声压通过下式进行计算:
其中,r表示成像点与阵列阵元之间的距离,k表示波数,θ表示方向角,ω表示角频率,a表示阵元宽度。
可选地,在本申请一些实施例中,激发阵元和接收阵元到散射点的路径通过下式进行计算:
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