[发明专利]半导体基片贴膜载台在审
申请号: | 202110022821.5 | 申请日: | 2021-01-08 |
公开(公告)号: | CN112838031A | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 郝雨明;裴少帅;苏亚青;吕剑 | 申请(专利权)人: | 华虹半导体(无锡)有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴广志 |
地址: | 214028 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 基片贴膜载台 | ||
1.一种半导体基片贴膜载台,其特征在于,所述半导体基片贴膜载台包括:
载台本体,所述载台本体用于承载半导体基片;
围挡圈,所述围挡圈包围在所述载台本体的外周;所述围挡圈的内壁与所述载台本体外缘之间形成集屑腔;
碎屑颗粒收集器,所述碎屑颗粒收集器包括连通的采集支端和集中端,所述集中端出设有碎屑颗粒滤网,所述采集支端连通所述集屑腔的底部,用于将进入所述集屑腔中的碎屑颗粒吸入集中至所述集中端。
2.如权利要求1所述的半导体基片贴膜载台,其特征在于,所述围挡圈通过连接部与所述载台本体连接。
3.如权利要求2所述的半导体基片贴膜载台,其特征在于,所述连接部设于所述集屑腔中,所述连接部的一端连接所述围挡圈的内壁,另一端连接所述载台本体的外缘。
4.如权利要求2所述的半导体基片贴膜载台,其特征在于,所述连接部有多个,多个所述连接部沿着所述载台本体的周向间隔排布。
5.如权利要求4所述的半导体基片贴膜载台,其特征在于,所述连接部将所述集屑腔分隔成多个集屑子腔,多个所述集屑子腔沿着所述载台本体的周向间隔排布。
6.如权利要求5所述的半导体基片贴膜载台,其特征在于,每个所述集屑子腔的底部连接一所述采集支端,各个所述集屑子腔的采集支端共同连通至集中端,用于将各个进入各个所述集屑子腔中的碎屑颗粒吸入集中至所述集中端。
7.如权利要求6所述的半导体基片贴膜载台,其特征在于,所述采集支端与对应集屑子腔的底部密封贴合。
8.如权利要求1至7中任一项所述的半导体基片贴膜载台,其特征在于,所述集中端后设有抽气泵,所述抽气泵与所述集中端连通,用于将进入所述集屑腔中的碎屑颗粒吸入集中至所述集中端。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华虹半导体(无锡)有限公司,未经华虹半导体(无锡)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202110022821.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:插头组件及组装插头连接器的方法
- 下一篇:一种古树名木病虫害防治预警系统
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造