[发明专利]基片浸泡机构及基片浸泡装置在审
申请号: | 202110013960.1 | 申请日: | 2021-01-06 |
公开(公告)号: | CN112750737A | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 边晓东;王洪建;刘建民;刘豫东;马雪婷 | 申请(专利权)人: | 北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所) |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 李翠 |
地址: | 100176 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 浸泡 机构 装置 | ||
1.一种基片浸泡机构,其特征在于,所述基片浸泡机构包括:
容纳构件,用于容纳基片;
承载构件,与所述容纳构件连接于第一位置;
施力构件,与所述容纳构件连接于第二位置;
第一驱动组件,与所述施力构件连接,以驱动所述施力构件,所述施力构件被驱动以相对于所述承载构件运动时,所述容纳构件被所述施力构件驱动,而以所述第一位置为基准改变姿态。
2.根据权利要求1所述的基片浸泡机构,其特征在于,所述施力构件的部分与所述承载构件彼此配合。
3.根据权利要求2所述的基片浸泡机构,其特征在于,所述承载构件包括:
导向部,所述施力构件的部分设置于所述承载构件的内部;
连接部,与所述导向部连接,并与所述容纳构件连接于第一位置。
4.根据权利要求3所述的基片浸泡机构,其特征在于,
所述导向部形成为杆状,所述连接部的部分与所述导向部的轴向方向呈夹角设置。
5.根据权利要求1所述的基片浸泡机构,其特征在于,所述基片浸泡机构还包括:
连接组件,所述第一驱动组件设置于所述连接组件,所述承载构件还与所述连接组件连接。
6.根据权利要求5所述的基片浸泡机构,其特征在于,所述连接组件包括至少两个以可拆卸的方式连接的连接构件。
7.根据权利要求5所述的基片浸泡机构,其特征在于,所述基片浸泡机构还包括:
第二驱动组件,所述连接组件设置于所述第二驱动组件,以被所述第二驱动组件驱动而升降。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的基片浸泡机构,其特征在于,所述容纳构件包括:
主体,形成有用于置入或者取出基片的开口;
限定构件,设置于所述开口,并用于限定所述基片,所述限定构件在于置入或者取出所述基片的方向上位置能够被调节。
9.根据权利要求1至7中任一项所述的基片浸泡机构,其特征在于,所述承载构件与所述容纳构件铰接于或者柔性连接于第一位置;和/或
所述施力构件与所述容纳构件铰接于或者柔性连接于第二位置。
10.一种基片浸泡装置,其特征在于,所述基片浸泡装置包括如权利要求1至9中任一项所述的基片浸泡机构。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造