[发明专利]一种测试治具射频校准系统及方法

说明书

本申请涉及一种测试治具射频校准系统及方法，属于射频测试技术的领域，校准系统包括校准模块和测试模块；第一射频线缆，用于一端连接插损测量装置的第一输入端口，另一端连接插损测量装置的第二输入端口，以进行插损测量装置的双端校准，并用于一端连接参数测试装置，另一端连接插损测量装置的第二输入端口；第二射频线缆，用于一端连接插损测量装置的第一输入端口，另一端连接探针连接器；探针连接器固定于屏蔽箱的载板上；并提供了一种测试治具射频校准方法。与相关技术相比，本申请具有改善WIFI/BLE产品的测试值与实际值存在较大的偏差的问题的效果。

技术领域

本申请涉及射频测试技术的领域，尤其是涉及一种测试治具射频校准系统及方法。

背景技术

随着信息技术和电子技术的发展，智能手机、平板、笔记本电脑、录像机、移动通信产品等电子产品在生活中越来越普遍，且几乎人手必备。而随着电子产品的普及，WIFI/BLE产品，即行动热点和蓝牙产品，也越来越常见。

电子消费类WIFI/BLE产品的生产大多处于多种频率的环境下，电磁干扰（EMI）非常严重，需要在空间“洁净”，即电磁干扰很小的环境下进行测试才能更好地测试WIFI/BLE产品的好坏。因此在进行测试时，一般将WIFI/BLE产品放置于屏蔽箱内进行。而在进行测试前，需要先对测试过程中形成的射频通路进行校准。屏蔽箱的空间狭小，且包含结构较为紧凑的载具（载板），因此在进行射频校准时，为了方便，一般在高频探针端接的射频线缆处进行校准，即对测试过程中的射频通路进行校准。

一般地，在对测试过程中的射频通路进行校准时，校准的环境与实际测试时的环境有所差异，使得校准中测量到的射频通路的插损值与测试时的插损值有所差异，进而导致WIFI/BLE产品的测试值与实际值存在较大的偏差。

发明内容

为了有助于改善WIFI/BLE产品的测试值与实际值存在较大的偏差的问题，本申请提供一种测试治具射频校准系统及方法。

第一方面，本申请提供一种测试治具射频校准系统，采用如下的技术方案：

一种测试治具射频校准系统，包括校准模块和测试模块，所述校准模块包括第一射频线缆、第二射频线缆、屏蔽箱和插损测量装置，所述测试模块包括参数测试装置和探针连接器；其中，

所述第一射频线缆，用于一端连接所述插损测量装置的第一输入端口，另一端连接所述插损测量装置的第二输入端口，以进行所述插损测量装置的双端校准，并用于一端连接所述参数测试装置，另一端连接所述插损测量装置的第二输入端口，以进行所述测试模块的校准；

所述第二射频线缆，用于一端连接所述插损测量装置的第一输入端口，另一端连接所述探针连接器，以进行所述测试模块的校准；

所述探针连接器固定于屏蔽箱的载板上。

通过采用上述技术方案，将第一射频线缆、第二射频线缆和屏蔽箱与测试模块的参数测试装置和探针连接器进行连接，构建包含射频通路（即参数测试装置和在屏蔽箱内的探针连接器形成的通路）的校准回路，使校准回路中的射频通路更接近实际测试过程中的射频通路，再使用插损测量装置测量校准回路中射频通路的插损值，使得到的插损值更接近实际测量过程中的插损值，从而有助于改善WIFI/BLE产品的测试值与实际值存在较大的偏差的问题。

可选的，所述校准模块还包括控制终端，所述控制终端上搭载有用于控制插损测量装置的自动测试工具。

通过采用上述技术方案，测试人员能够通过控制终端上的自动测试工具控制插损测量装置的工作状态，并在自动测量工具上进行切换频点等参数，无需在插损测量装置上进行调节，减少调参所耗费的时间，从而能够提高校准的效率。

可选的，所述控制终端与插损测量装置之间通过通信线连接，所述通信线包括不限于GPIB和网线中的任一种。