[发明专利]一种测试治具射频校准系统及方法

权利要求书

1.一种测试治具射频校准系统，其特征在于：包括校准模块和测试模块，所述校准模块包括第一射频线缆(3)、第二射频线缆(4)、屏蔽箱(2)和插损测量装置(1)，所述测试模块包括参数测试装置(5)和探针连接器(6)；其中，

所述第一射频线缆(3)，用于一端连接所述插损测量装置(1)的第一输入端口，另一端连接所述插损测量装置(1)的第二输入端口，以进行所述插损测量装置(1)的双端校准，并用于一端连接所述参数测试装置(5)，另一端连接所述插损测量装置(1)的第二输入端口，以进行所述参数测试装置(5)的校准；

所述第二射频线缆(4)，用于一端连接所述插损测量装置(1)的第一输入端口，另一端连接所述探针连接器(6)，以进行所述探针连接器(6)的校准；

所述探针连接器(6)固定于屏蔽箱(2)的载板上；

其中，所述第一射频线缆(3)、第二射频线缆(4)和所述屏蔽箱(2)与所述参数测试装置(5)和所述探针连接器(6)进行连接，构建成包含射频通路的校准回路，再基于所述插损测量装置(1)测量校准回路中射频通路的插损值。

2.根据权利要求1所述的一种测试治具射频校准系统，其特征在于：所述校准模块还包括控制终端(7)，所述控制终端(7)上搭载有用于控制插损测量装置(1)的自动测试工具(71)。

3.根据权利要求2所述的一种测试治具射频校准系统，其特征在于：所述控制终端(7)与插损测量装置(1)之间通过通信线(8)连接，所述通信线(8)包括不限于GPIB和网线中的任一种。

4.根据权利要求2或3所述的一种测试治具射频校准系统，其特征在于：所述控制终端(7)将自动测试工具(71)控制插损测量装置(1)测量得到的插损值进行记录，生成并存储对应的插损文档。

5.根据权利要求1所述的一种测试治具射频校准系统，其特征在于：所述探针连接器(6)在屏蔽箱(2)载板上的位置与被测试产品在屏蔽箱(2)载板上的位置一致。

6.一种测试治具射频校准方法，基于一种测试治具射频校准系统实现，其特征在于：所述射频校准方法包括，

插损测量装置校准(101)，对插损测量装置(1)进行校准；

校准接线(102)，根据实际测试中的射频通路，连接好测试模块，并将插损测量装置(1)接入连接好的测试模块；以及，

校准测试(103)，启动插损测量装置(1)进行测量，记录得到各个频点对应的插损值，生成并存储对应的插损文档；

其中，所述校准接线(102)的方法包括，

将第一射频线缆(3)的一端与参数测试装置(5)的输入端口连接，另一端与插损测量装置(1)的第二输入端口连接；以及，

将第二射频线缆(4)的一端与插损测量装置(1)的第一输入端口连接，另一端与固定在屏蔽箱(2)载板上的探针连接器(6)连接。

7.根据权利要求6所述的一种测试治具射频校准方法，其特征在于：所述插损测量装置校准(101)的方法包括，

对插损测量装置(1)的第一输入端口和第二输入端口进行单端校准；

将第一射频线缆(3)的一端与插损测量装置(1)的第一输入端口连接，另一端与插损测量装置(1)的第二输入端口连接；以及，

对连接好第一射频线缆(3)的插损测量装置(1)进行双端校准。