[发明专利]一种自适应的芯片自动化测试方法

权利要求书

1.一种自适应的芯片自动化测试方法，其特征在于，所述方法包括：

通过串行外设接口SPI获取测试基台发送的芯片测试指令；

根据所述芯片测试指令触发所述芯片运行芯片自测试程序，以获取测试结果；

通过所述SPI将所述测试结果反馈给所述测试基台。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过串行外设接口SPI获取测试基台发送的芯片测试指令，包括：

在所述芯片无测试引脚的情况下，通过所述串行外设接口SPI获取所述测试基台发送的所述芯片测试指令。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述芯片有测试引脚的情况下，通过所述测试引脚获取所述测试基台发送的所述芯片测试指令。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述芯片自测试程序是在芯片晶圆测试CP阶段烧录进芯片。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述芯片测试指令触发所述芯片运行芯片自测试程序，以获取测试结果，包括：

基于所述芯片测试指令和映射关系，触发目标测试类型的测试过程，以获取所述测试结果，所述映射关系包括至少一个指令和至少一个测试类型的对应关系，所述至少一个指令包括所述芯片测试指令。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述映射关系为预设的。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述目标测试类型包括以下中的至少一项：

静态随机存储器SRAM读写测试类型、闪存读写测试类型、漏电测试类型、输入输出IO读写测试类型或内部电压读取测试类型。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述芯片包括微控制器单元MCU。

9.一种自适应的芯片自动化测试方法，其特征在于，所述方法适用于测试基台，所述方法包括：

通过SPI向芯片发送芯片测试指令，所述芯片测试指令用于所述芯片根据所述芯片测试指令触发所述芯片运行芯片自测试程序，以获取测试结果；

通过所述SPI接收所述芯片反馈的所述测试结果。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述通过SPI向芯片发送芯片测试指令包括：

在所述芯片无测试引脚的情况下，通过所述SPI向所述芯片发送所述芯片测试指令。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在所述芯片有测试引脚的情况下，通过所述测试引脚向所述芯片发送所述芯片测试指令。

12.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述芯片自测试程序是在芯片晶圆测试CP阶段烧录进芯片。

13.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述通过SPI向芯片发送芯片测试指令之前，所述方法还包括：

确定目标测试类型；

基于所述目标测试类型和映射关系，确定所述目标测试类型对应的指令确定为所述芯片测试指令，所述映射关系包括所述至少一个指令和至少一个测试类型的对应关系，所述至少一个测试类型包括所述目标测试类型。

14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，所述映射关系为预设的。

15.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，所述目标测试类型包括以下中的至少一项：

静态随机存储器SRAM读写测试类型、闪存读写测试类型、漏电测试类型、输入输出IO读写测试类型或内部电压读取测试类型。

16.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述芯片包括MCU芯片。