[发明专利]物体检测系统和物体检测方法在审

专利信息
申请号: 202080098693.6 申请日: 2020-03-30
公开(公告)号: CN115298566A 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 对马尚之 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G01S13/89 分类号: G01S13/89;G01S13/931
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 邓晔;宋俊寅
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 物体 检测 系统 方法
【说明书】:

本发明的物体检测系统包括:代表点提取功能(421),其将照射野内的每个坐标点的反射电平与阈值(ThC)进行比较,作为存在于照射野内的物标(90)的代表反射点(Pr)提取;反射点计数功能(423),其使用设定从代表反射点(Pr)延伸,在照射野内以代表反射点(Pr)为中心隔开间隔地配置的相同长度的多个检测线段(St)的线段设定部、比阈值(ThC)要低的第二阈值(ThM),将比多个检测线段(St)各自所包含的第二阈值(ThM)更高电平的坐标点作为反射点进行计数;以及反射点决定功能(424),其将在到反射点数较多的上位第二位为止的检测线段(St)中被计数的反射点决定作为来自物标(90)的反射点。

技术领域

本申请涉及物体检测系统和物体检测方法。

背景技术

在利用来自物体的反射回波来检测物体的毫米波雷达等物体检测系统中,要求抑制由于根据环境在时间上、空间上变动的被称为杂波的无用信号导致的误检测。因此,使用了CFAR(Constant False Alarm Rate:恒虚警率)这样的方法,即:对于想要进行检测有无的判定的区域,对其周围的区域的接收强度进行平均化来求出是否检测为物体的阈值(例如,参照非专利文献1)。

现有技术文献

非专利文献

【非专利文献1】电子信息通信学会编“知识库”(http://www.ieice-hbkb.org/files/11/11gun_02hen_05.pdf),第11组(社会信息系统)-第2篇(电子导航和导航系统)-第5章基础和通用技术(ver.1/2011.4.15),5-2雷达原理,5-2-1检测技术(作者:桐本哲郎)

发明内容

发明所要解决的技术问题

上述的通过平均化计算阈值的方法在检测对象(物标)的大小与雷达的分辨率相比十分小、且将物体作为点捕捉的系统中,是有效抑制误检测的手段。然而,在对于一个物标能够检测出多个点那样的近年来的高分辨率雷达中,由于反射强度高的一部分反射点,阻碍了对其他反射点的检测,反而很难发挥原来的性能。其结果,存在无法判别物体种类的推定所需的物标的形状的问题。

本申请公开了一种用于解决上述问题的技术,其目的是获得一种能够判别物标的形状的物体检测系统和物体检测方法。

用于解决技术问题的技术手段

本申请所公开的物体检测系统的特征在于,包括:波动装置,该波动装置照射波动,并接收反射波;反射电平计算部,该反射电平计算部根据从所述波动装置输出的信号,计算照射野内的每个坐标点的反射电平;代表点提取部,该代表点提取部将每个所述坐标点的反射电平与以第一设定基准设定的阈值进行比较,将表示比所述阈值更高的反射电平的坐标点作为在所述照射野内存在的物体的代表反射点提取;线段设定部,该线段设定部设定从所述代表反射点延伸,以所述代表反射点为中心,在所述照射野内沿周向隔开间隔地配置的相同长度的多个线段;反射点计数部,该反射点计数部使用以计算出的值比所述阈值要低的第二设定基准来设定的第二阈值,分别在多个所述线段中,将表示比所述第二阈值要高的反射电平的坐标点作为反射点进行计数;以及反射点决定部,该反射点决定部将在多个所述线段中的到被计数的所述反射点较多的上位第二位为止的线段中被计数的反射点决定为来自所述物体的反射点。

本申请所公开的物体检测方法的特征在于,包括:接收照射波动时的反射波,计算照射野内的每个坐标点的反射电平的反射电平计算步骤;将每个所述坐标点的反射电平与以第一设定基准设定的阈值进行比较,将表示比所述阈值更高的反射电平的坐标点作为在所述照射野内存在的物体的代表反射点提取的代表点提取步骤;设定从所述代表反射点延伸,以所述代表反射点为中心,在所述照射野内沿周向隔开间隔地配置的相同长度的多个线段的线段设定步骤;使用以计算出的值比所述阈值要低的第二设定基准来设定的第二阈值,分别在多个所述线段中,将表示比所述第二阈值要高的反射电平的坐标点作为反射点进行计数的反射点计数步骤;以及将在多个所述线段中的到被计数的所述反射点较多的上位第二位为止的线段中被计数的反射点决定为来自所述物体的反射点的反射点决定步骤。

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