[发明专利]成像系统及其操作方法

说明书

本文公开一种操作成像系统(500)的方法，该方法包括：(A)图像传感器(490)，该图像传感器(490)包括(a)顶部表面(492)，(b)所述顶部表面(492)上的M个物理分开的有源区域(190A，190B，190C和190D)，以及(c)在所述顶部表面(492)上并在所述M个有源区域(190A，190B，190C和190D)之间的盲区(488)，以及(B)包括有电子轰击目标的辐射源(510)系统，所述方法包括：对于i＝1，…，N，通过使电子轰击在辐射位置(i)的所述电子轰击目标的目标表面，依次引起X射线光子(i)从所述辐射位置(i)发射；并且对于i＝1，…，N，响应于所述X射线光子(i)的发射，分别在M个有源区域(190A，190B，190C和190D)中捕获同一物体(520)的部分(i)的M个图像(i)，从而得到M×N个图像，其中所述物体(520)的每个点均被捕获在所述M×N个图像中的至少一个图像中。

【技术领域】

本文的公开涉及成像技术，特别涉及成像系统及其操作方法。

【背景技术】

辐射检测器是一种测量辐射的特性的装置。所述特性的示例可包括辐射的强度、相位和偏振的空间分布。所述辐射可以是与物体相互作用的辐射。例如，由辐射检测器测量的辐射可以是已经从物体穿透或从物体反射的辐射。所述辐射可以是电磁辐射，比如红外光、可见光、紫外光、X射线或γ射线。所述辐射可以是其他类型，比如α射线和β射线。一个成像系统可包括多个辐射检测器。辐射检测器很昂贵；因此，现有技术的典型成像系统也很昂贵。

【发明内容】

本文公开一种成像系统，其包括：图像传感器，该图像传感器包括(a)顶部表面，(b)所述顶部表面上的M个有源区域，M是大于0的整数，以及(c)在所述顶部表面上并在所述M个有源区域之间的盲区，其使得所述M个有源区域中没有任何一个有源区域与另一个有源区域是直接的物理接触；以及辐射源系统，其包括电子枪和电子轰击目标，其中，对于i＝1，…，N，N为大于1的整数，所述辐射源系统被配置为通过使来自所述电子枪的电子在辐射位置(i)轰击电子轰击目标的目标表面，而使X射线光子(i)从辐射位置(i)发射，其中对于i＝1，…，N，响应于所述X射线光子(i)从所述辐射位置(i)的发射，所述图像传感器被配置为分别在M个有源区域中捕获同一物体的部分(i)的M个图像(i)，从而得到M×N个图像，并且其中所述物体的每个点均被捕获在所述M×N个图像中的至少一个图像中。

根据实施例，所述电子轰击目标具有板状的形状。

根据实施例，所述电子轰击目标被配置为当所述辐射位置(i)，i＝1，...，N保持在所述电子轰击目标的目标表面上时旋转。

根据实施例，所述电子轰击目标被配置为倾斜、平移或倾斜并平移。

根据实施例，所述辐射源系统被配置为使来自所述电子枪的电子束偏转。

根据实施例，所述电子轰击目标包括N个目标块，并且对于i＝1，…，N，所述辐射位置(i)在所述N个目标块中的一个目标块(i)的目标表面上。

根据实施例，所述电子轰击目标包含钨。

根据实施例，所述电子枪被配置为产生电子束，然后使所述电子束偏转。

根据实施例，所述成像系统进一步包括真空管，所述辐射源系统驻留在所述真空管中。

根据实施例，所述成像系统进一步包括直流(DC)电压源，所述直流电压源被配置为引起从所述电子轰击目标到所述电子枪的电压降。

根据实施例，其中M为1，并且N为2。

根据实施例，所述辐射位置(i)，i＝1，...，N，在平行于所述顶部表面的平面上。