[发明专利]图像处理系统、设定方法和程序在审

专利信息
申请号: 202080067903.5 申请日: 2020-03-10
公开(公告)号: CN114450579A 公开(公告)日: 2022-05-06
发明(设计)人: 藤枝紫朗 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/88;G06T7/00;H04N7/18
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 章琴;邓毅
地址: 日本国京*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 系统 设定 方法 程序
【说明书】:

图像处理系统具有:选择部,其从多个评价算法中选择1个对象算法;计算部,其针对各评价用点亮模式,使用对象算法和与该评价用点亮模式对应的至少1个评价图像,计算表示对图像计测的适合度的评价值;以及模式决定部,其基于评价值,从多个评价用点亮模式中决定用于图像计测的点亮模式。由此,能够以适合于使用了对象物的外观图像的图像计测的方式,更简单地进行照明的点亮设定。

技术领域

本公开涉及图像处理系统、设定方法和程序。

背景技术

在工厂自动化(Factory Automation:FA)领域等中,利用了如下的图像处理技术:在来自照明装置的光的照明下拍摄对象物,并从所生成的图像数据中取得与对象物相关的信息。

在使用照明的颜色、方向等能够设定的条件较多的照明装置的情况下,从多个点亮模式中适当选择最佳的点亮模式。例如,日本特开2003-270163号公报(专利文献1)公开了如下技术:基于使照明条件变化来拍摄条件设定用物品而得到的多个拍摄图像来运算使评价值最优化的照明条件,并在运算出的照明条件下进行检查对象物品的检查。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2003-270163号公报

专利文献2:日本特开平7-220058号公报

发明内容

发明所要解决的课题

在专利文献1所公开的技术中,基于统一的评价值来使照明条件最优化。然而,在使用对象物的外观图像的图像计测中,根据对象物的状态或对外观图像的图像处理内容,对图像计测的适合度的评价方法可能不同。因此,基于统一的评价值而最优化的照明条件有可能不适合于图像计测。

本公开是鉴于上述问题而完成的,其目的在于提供一种能够更简单地进行照明的点亮设定以适合于使用了对象物的外观图像的图像计测的图像处理系统、设定方法和程序。

用于解决课题的手段

根据本公开的一例,进行使用了对象物的外观图像的图像计测的图像处理系统具有:拍摄部,其拍摄对象物;以及照明部,其由用于对对象物照射光的多个照明要素构成,能够针对每个照明要素调整发光强度和发光颜色中的至少一方。图像处理系统还具有图像取得部、选择部、计算部和模式决定部。图像取得部按照互不相同的多个评价用点亮模式分别从照明部照射照明光,并且从拍摄部取得与各评价用点亮模式对应的至少1个评价图像。选择部从多个评价算法中选择1个对象算法。计算部针对各评价用点亮模式,使用对象算法和与该评价用点亮模式对应的至少1个评价图像,计算表示对图像计测的适合度的评价值。模式决定部基于评价值,从多个评价用点亮模式中决定用于图像计测的点亮模式。

根据本公开,从多个评价算法中选择适于图像计测的评价算法,由此将最适于该图像计测的点亮模式自动地决定为计测用点亮模式。由此,能够以适合于使用了对象物的外观图像的图像计测的方式,简单地进行照明的点亮设定。

在上述公开中,多个评价算法包含第1算法和至少1个第2算法。第1算法将依赖于至少1个评价图像中的至少1个第1区域与至少1个第2区域的差分的第1评价值作为评价值输出。至少1个第2算法将依赖于至少1个第2区域的均匀度的第2评价值作为评价值输出。

例如,在用于检测对象物表面的缺陷的图像计测中,实施用于强调缺陷部分的图像处理。在进行能够与缺陷部分一起连背景都强调的图像处理的情况下,优选使得背景尽可能均匀的点亮模式。根据上述公开,将包含缺陷的区域设定为第1区域,将不包含缺陷的背景的区域设定为第2区域,且选择第2算法作为对象算法,由此能够将使得背景均匀的点亮模式决定为计测用点亮模式。另一方面,在进行不太强调背景的图像处理的情况下,优选使得缺陷部分与背景的差分较大的点亮模式。在这样的情况下,通过选择第1算法作为对象算法,能够将使得缺陷部分与背景的差分较大的点亮模式决定为计测用点亮模式。

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