[发明专利]多重环绕飞行时间型质量分析装置

说明书

本发明的一方案的MT‑TOFMS具备：线性离子阱(2)，将作为分析对象的离子暂时保持，并通过沿一个方向呈细长形状的离子射出开口(211)射出该离子；环绕飞行部(3)，形成能够使离子反复飞行的环绕轨道(P)；狭缝部(5)，配设在从线性离子阱(2)射出的离子直到被导入环绕轨道期间的离子路径，屏蔽离子射出开口(211)在长度方向上的一部分离子。

技术领域

本发明涉及飞行时间型质量分析装置，更详细而言，涉及多重环绕飞行时间型质量分析装置。

背景技术

在飞行时间型质量分析装置(Time of Flight Mass Spectrometer：以下有时简称为“TOFMS”)中，对来自试样中包含的成分的离子赋予固定的能量并投入飞行空间，使该离子飞行固定的距离后进行检测并测量飞行时间。由于飞行空间内的离子的飞行速度与该离子的质荷比(严格来说是斜体字的“m/z”，但在此记为惯用的“质荷比”)对应，因此能够根据测量到的飞行时间求出离子的质荷比。在TOFMS中，虽然离子的飞行距离越长则质量分辨率越高，但一般来说要延长飞行距离，则装置会变得大型。

相对于此，作为TOFMS的一种，已知有多重环绕(多环)方式的TOFMS(Multi Turn-Time of Flight Mass Spectrometer：以下有时简称为“MT-TOFMS”)(参照专利文献1等)。在MT-TOFMS中，通过使离子沿着大致圆形状、大致椭圆形状、8字形状等闭合的环绕轨道，或者以螺旋轨道等环绕轨道为基准的轨道(以下，将这样的轨道包含在内称为环绕轨道)进行多次环绕，能够在相对狭窄的空间确保格外长的飞行距离。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-99424号公报

发明内容

发明所要解决的技术问题

为了在MT-TOFMS中实现较高的检测灵敏度，期望将尽可能大量的离子投入环绕轨道。作为用于此的一个方法，进行了这样的尝试：即，将与3维四极型离子阱相比能够蓄积更大量的离子的线性离子阱与MT-TOFMS进行组合。然而，根据本发明人等的实验表明：在将从线性离子阱射出的离子导入MT-TOFMS的环绕轨道来实施质量分析的情况下，具有相同质荷比的离子的飞行时间的偏差变大(即时间收敛性降低)，产生质谱上的峰的宽度变宽这样的问题。

本发明是为了解决上述技术问题而完成的，其目的在于提供一种能够在提高检测灵敏度的同时实现较高的质量精度及质量分辨率的多重环绕飞行时间型质量分析装置。

用于解决上述技术问题的方法

为了解决上述技术问题而完成的本发明的多重环绕飞行时间型质量分析装置的一个方案为，具备：

线性离子阱，将作为分析对象的离子暂时保持，并通过沿一个方向呈细长形状的离子射出开口射出该离子；

环绕飞行部，形成使离子能够反复飞行的环绕轨道；

狭缝部，配设在从所述线性离子阱射出的离子直到被导入所述环绕轨道期间的离子路径，屏蔽所述离子射出开口在长度方向上的一部分离子。

上述环绕轨道可以是从轨道上的某1点飞行的离子在绕环绕轨道1周后返回到同一点那样的完全闭合的轨道，也可以是如上所述那样，不是完全闭合的轨道，而是例如螺旋状那样，离子每次环绕时其轨道逐渐偏离的轨道。

发明效果

在本发明的上述方案的MT-TOFMS中，在离子从线性离子阱射出时，离子在与其行进方向正交的面内具有棒状或细长的矩形状的扩展而呈包状地射出，但其长度方向的一部分的离子被狭缝部屏蔽。