[发明专利]多重环绕飞行时间型质量分析装置在审
申请号: | 202080053175.2 | 申请日: | 2020-08-11 |
公开(公告)号: | CN114175210A | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 上野良弘;前田竜五;立石勇介;三浦宏之 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | H01J49/42 | 分类号: | H01J49/42;H01J49/06 |
代理公司: | 上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291 | 代理人: | 杨楷;毛立群 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多重 环绕 飞行 时间 质量 分析 装置 | ||
1.一种多重环绕飞行时间型质量分析装置,其特征在于,具备:
线性离子阱,将作为分析对象的离子暂时保持,并通过沿一个方向呈细长形状的离子射出开口射出该离子;
环绕飞行部,形成能够使离子反复飞行的环绕轨道;
狭缝部,配设在从所述线性离子阱射出的离子直到被导入所述环绕轨道期间的离子路径,屏蔽所述离子射出开口在长度方向上的一部分离子。
2.如权利要求1所述的多重环绕飞行时间型质量分析装置,其特征在于,
所述环绕轨道形成在平面上,所述狭缝部中的离子通过开口在该平面上的一个方向上呈细长形状。
3.如权利要求2所述的多重环绕飞行时间型质量分析装置,其特征在于,
以从所述离子射出开口的长度方向的中央射出的离子入射至所述环绕轨道的中心轴的方式相互配置所述线性离子阱与所述环绕飞行部,所述狭缝部的离子通过开口以从所述离子射出开口的长度方向的中央射出的离子通过的位置为中心而在长度方向上为非对称形状。
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