[发明专利]测量系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 202080043743.0 申请日: 2020-12-10
公开(公告)号: CN114008482A 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 桥村义人;藤原祥持;数原悠太 申请(专利权)人: 计测技研株式会社
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 赵曦
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测量 系统 测量方法
【说明书】:

测量机用摄影控制部(203)将含有预先设置于建筑物的测量对象的二维标记的摄影图像予以摄影。测量机用辨识控制部(204)将二维标记所对应的二维标记图像的摄影图样与数据库的二维标记的识别图样比对而辨识特定的识别图样。测量机用信息显示控制部(205)将关联附加于特定的识别图样的含有测量对象的设定值的测量信息显示于摄影图像。计算控制部(206)计算摄影图像内的二维标记图像的标记中心位置与望远镜的十字线的中心位置的差值。调整控制部(207)调整望远镜的方向以使十字线的中心位置对准标记中心位置。测距控制部(208)使用测量机在十字线的中心位置对准标记中心位置的状态下测距该标记中心位置作为测定值。信息储存控制部(209)将测定值储存于数据库。

技术领域

本发明关于一种测量系统及测量方法。

背景技术

已知有利用特征标记(标识)的测量关联技术。例如,日本特开平5-149748号公报(专利文献1)公开了一种相对位置姿势计测用目标标记,其由设置于同一平面上四个标记及设置于另一平面上的一个标记构成,使标记具有特征量。日本特开2016-138802号公报(专利文献2)公开了一种测量系统,具有棱镜及全站仪,该全站仪为对棱镜照射测距光,基于来自棱镜的反射测距光而进行测距。日本特开2017-151013号公报(专利文件3)公开了一种测量支持装置,具有影像取得部、利用指定标记的影像分析处理部及作业支持部。日本特开2019-113491号公报(专利文献4)公开了一种标的装置,在表面具有螺旋状的图样显示。

再者,日本特开2017-201281号公报(专利文献5)公开了一种自动准直装置,以计算器比较测定信息与构造物的设计信息。中国专利申请公开第104778488号说明书(专利文献6)公开了贴于钢构造体构件的二维条形码。日本特开2017-15445号公报(专利文献7)公开了一种计测程序,在无法从影像信息检测出检测标记的情况下,为了适当唤起注意而发出警告音并且于显示画面进行错误显示。日本特开2017-72442号公报(专利文献8)公开了一种测定装置,终端将预先定出的测定预定位置与位置测定装置所测定的反射棱镜的测定位置予以比较,计算出其位置关系,将反射棱镜的测定预定位置与实际测定的测定位置的位置关系予以图像化地显示于终端的显示部。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开平5-149748号公报

专利文献2:日本特开2016-138802号公报

专利文献3:日本特开2017-151013号公报

专利文献4:日本特开2019-113491号公报

专利文献5:日本特开2017-201281号公报

专利文献6:中国专利申请公开第104778488号说明书

专利文献7:日本特开2017-15445号公报

专利文献8:日本特开2017-72442号公报

发明内容

发明所欲解决的问题

通常的测量中,测量者于建造物或柱子等的建筑物的测量对象设置测量专用的目标薄片(反射片),于正前方面对目标薄片的位置(正对的位置)设置测量机,以测量机的望远镜准直目标薄片,以测量机测距,由此测定目标薄片的坐标。

测量机在测距之际,于望远镜的准直方向照射激光,检测出从目标薄片反射的激光的反射光的强度。于此,激光光从测量机发出,在目标薄片反射,该反射光从目标薄片返回至测量机。以测量机检测出的反射光,往返测量机到目标薄片的距离,因而会就往返距离的量产生延迟,此延迟则成为相位差。测量机基于相位差计算出至目标薄片为止的距离,而测定目标薄片的坐标。

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