[发明专利]确定胶体中纳米粒子尺寸的改进方法有效

专利信息
申请号: 202080021241.8 申请日: 2020-02-03
公开(公告)号: CN113597546B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 简·J·鞑靼维茨 申请(专利权)人: 堀场仪器株式会社
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 王建国;李琳
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 确定 胶体 纳米 粒子 尺寸 改进 方法
【说明书】:

系统包括可调节光源,该可调节光源被构造为将电磁辐射束引导至样品室,当对室内的粒子进行照射时,样品室允许束的一部分散射。该束的散射部分被引导至传感器,该传感器具有帧速率和在帧之间的时间段。系统可以具有连接至传感器和光源的处理器,该处理器可以执行以下步骤:激活光源并且从传感器获得图像;如果来自传感器的图像显示粒子闪烁,则降低帧速率,将曝光时间设置为在帧之间的时间的至少60%,并且减少照射。然后,处理器获得附加图像并处理这些图像以减轻模糊。处理器根据经处理的图像确定粒子的布朗运动,并且基于所述运动确定粒子的尺寸。

技术领域

本发明涉及使用装备有数码摄像机的显微镜测量和观察液体样品中的纳米粒子。

相关申请

本申请要求于2019年3月23日提交的题为“确定胶体中纳米粒子尺寸的改进方法(IMPROVED METHOD FOR DETERMINING THE SIZE OF NANOPARTICLES IN A COLLOID)”的美国专利申请16/362636和于2019年4月23日提交的题为“确定胶体中纳米粒子尺寸的改进方法(IMPROVED METHOD FOR DETERMINING THE SIZE OF NANOPARTICLES IN A COLLOID)”的美国专利申请16/391870的优先权,其全部公开内容通过引用整体并入本文。

本申请还涉及:于2016年7月1日提交的题为“用于基于纳米粒子跟踪和计数设备校准光片的研究体积的方法(METHOD FOR CALIBRATING INVESTIGATED VOLUME FOR LIGHTSHEET BASED NANOPARTICLE TRACKING AND COUNTING APPARATUS)”的美国临时专利申请第62/357777号;于2016年8月8日提交的题为“用于基于纳米粒子跟踪和计数设备校准光片的研究体积的方法(METHOD FOR CALIBRATING INVESTIGATED VOLUME FOR LIGHT SHEETBASED NANOPARTICLE TRACKING AND COUNTING APPARATUS)”的美国临时专利申请第62/372025号;于2016年11月14日提交的题为“用于基于纳米粒子跟踪和计数设备校准光片的研究体积的方法(METHOD FOR CALIBRATING INVESTIGATED VOLUME FOR LIGHT SHEETBASED NANOPARTICLE TRACKING AND COUNTING APPARATUS)”的美国临时专利申请第62/421585号;于2015年10月14日提交的题为“用于测量胶体纳米粒子的生长或溶解动力学的设备(APPARATUS FOR MEASUREMENTS OF GROWTH OR DISSOLUTION KINETICS OFCOLLOIDAL NANOPARTICLE)”的美国临时专利申请第62/241354号;于2016年10月16日提交的题为“用于测量胶体粒子的生长或溶解动力学的设备和方法(APPARATUS AND METHODFOR MEASUREMENT OF GROWTH OR DISSOLUTION KINETICS OF COLLOIDAL PARTICLES)”的美国专利申请第15/293180号;于2016年2月8日提交的题为“用于观察胶体中粒子的微观运动和计数的多像机设备及其校准(MULTI-CAMERA APPARATUS FOR OBSERVATION OFMICROSCOPIC MOVEMENTS AND COUNTING OF PARTICLES IN COLLOIDS AND ITSCALIBRATION)”的美国专利申请第15/018532号;于2016年6月28日提交,2017年1月10日发布为美国专利申请第9,541,490号,题为“用于液体中的纳米粒子的光学显微术的专用比色皿组件和方法(SPECIAL PURPOSE CUVETTE ASSEMBLY AND METHOD FOR OPTICALMICROSCOPY OF NANOPARTICLES IN LIQUIDS)”的美国专利申请第15/194,823号;于2015年6月3日提交,2017年5月9日发布为美国专利申请第9,645,070号,题为“纳米粒子分析仪(SNANOPARTICLE ANALYZER)”的美国专利申请第14/730,138号;于2017年1月5日提交的题为“用于液体中的纳米粒子的光学显微术的专用比色皿组件和方法(SPECIAL PURPOSECUVETTE ASSEMBLY AND METHOD FOR OPTICAL MICROSCOPY OF NANOPARTICLES INLIQUIDS)”的美国专利申请第15/399679号;于2017年5月15日提交的题为“用于液体中的纳米粒子的光学显微术的专用比色皿组件和方法(SPECIAL PURPOSE CUVETTE ASSEMBLY ANDMETHOD FOR OPTICAL MICROSCOPY OF NANOPARTICLES IN LIQUIDS)”的美国专利申请第15/594967号;以及于2015年7月1日提交的题为“用于液体中的纳米粒子的光学显微术的专用比色皿组件和方法(SPECIAL PURPOSE CUVETTE ASSEMBLY AND METHOD FOR OPTICALMICROSCOPY OF NANOPARTICLES IN LIQUIDS)”的美国专利申请第62/187391号;所有上述专利的公开内容通过引用整体并入本文。

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