[发明专利]确定胶体中纳米粒子尺寸的改进方法

权利要求书

1.一种用于确定在包括可调节光源的系统中使用的粒子的尺寸的方法，所述可调节光源构造为将电磁辐射束引导至样品室，当对所述室内的粒子进行照射时，所述样品室允许所述束的一部分散射，其中，散射的部分被引导至传感器，所述传感器具有帧速率和在帧之间的时间段，所述方法包括：

A.激活所述光源，并且从所述传感器获得图像；

B.如果来自所述传感器的所述图像显示粒子闪烁；

i.降低所述帧速率；

ii.将曝光时间设置为在帧之间的时间的至少60％；

iii.减少照射；

C.基于步骤(B)的新设置从所述传感器获得图像；

D.处理图像以减轻模糊；

E.根据所处理的图像确定所述粒子的布朗运动；

F.基于所述布朗运动确定所述粒子的尺寸。

2.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：设置闪烁减少预设，并且重复步骤(B)(i)和(ii)直到已经实现所述闪烁减少预设。

3.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

G.基于所确定的尺寸确定粒子尺寸分布(PSD)函数；

H.根据所述PSD确定所述粒子是否是长形的。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，系统传感器具有图像平面，并且所述系统包括电极，所述电极构造成在所述图像平面内并穿过所述样品室产生电场，所述方法进一步包括：

I.在驱动所述电极以产生所述电场的同时从所述传感器获得图像；

J.根据步骤(I)的所述图像确定所述粒子的所述布朗运动；

K.将所述运动分解成与所述电场基本平行的第一分量和与所述电场基本正交的第二分量；

L.对于每个分量，确定所述粒子的尺寸。

5.一种用于确定胶体的粒子尺寸分布的系统，所述系统包括：

可调节光源，其构造为将电磁辐射束引导至样品室，所述室构造为当对所述室内的粒子进行照射时允许所述束的一部分散射；

传感器，其定位成检测所述束的所述散射，所述传感器具有帧速率和在帧之间的时间段；

处理器，其连接到所述光源和所述传感器，所述处理器配置为执行以下步骤：

A.激活所述光源，从所述传感器获得图像；

B.如果来自所述传感器的所述图像显示粒子闪烁；

i.降低所述帧速率；

ii.将曝光时间设置为在帧之间的时间的至少60％；

iii.减少照射；

C.基于步骤(B)的新设置从所述传感器获得图像；

D.处理图像以减轻模糊；

E.根据所处理的图像确定所述粒子的布朗运动；

F.基于所述布朗运动确定所述粒子的尺寸。

6.根据权利要求5所述的系统，其中，所述处理器执行以下步骤：设置闪烁减少预设，并且重复步骤(B)(i)和(ii)直到已经实现所述闪烁减少预设。

7.根据权利要求5所述的系统，其中，所述处理器执行以下步骤：

G.基于所确定的尺寸确定粒子尺寸分布(PSD)函数；

H.根据所述PSD确定所述粒子是否是长形的。

8.根据权利要求7所述的系统，其中，系统传感器具有图像平面，并且所述系统包括电极，所述电极连接到所述处理器，并且构造成在所述图像平面内并穿过所述样品室产生电场，其中，所述处理器执行以下步骤：

I.在驱动所述电极以产生所述电场的同时从所述传感器获得图像；

J.根据步骤(I)的所述图像确定所述粒子的所述布朗运动；

K.将所述运动分解成与所述电场基本平行的第一分量和与所述电场基本正交的第二分量；

L.对于每个分量，确定所述粒子的尺寸。