[发明专利]光学测距装置在审
申请号: | 202080018600.4 | 申请日: | 2020-01-23 |
公开(公告)号: | CN113518929A | 公开(公告)日: | 2021-10-19 |
发明(设计)人: | 立野善英 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | G01S7/481 | 分类号: | G01S7/481;G01S7/497;G01S17/89;G01S17/931 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 金雪梅;王秀辉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光学 测距 装置 | ||
本发明涉及光学测距装置。光学测距装置(10)具备:光检测器(30),输出与接受的光量对应的输出信号;扫描型扫描仪(50),切换为使外部的光入射到上述光检测器的状态、和不使外部的光入射到上述光检测器的暗状态;以及异常判定器(72),使用判定阈值和从上述暗状态下的上述光检测器输出的输出信号来判断上述光检测器的劣化状态。
相关申请的交叉引用
本申请主张基于2019年3月6日申请的申请号2019-040535号的日本申请的优先权,并通过参照在本申请中并入其公开的全部。
技术领域
本公开涉及光学测距装置。
背景技术
在日本特开2016-176750号公报中公开了一种光学测距装置,向对象物发出光,并使用到接受反射光为止的光的飞行时间(TOF)来测定到对象物的距离。该光学测距装置使用在盖革模式下进行动作的SPAD(单光子雪崩二极管),作为光检测器。
在这种光检测器中,已知以构成SPAD的半导体的内部缺陷为起因而产生经时劣化的情况。若经时劣化发展,则与光的受光无关地流动的暗电流增加,可能成为不能够正确地测定距离等故障的重要因素。在车载学测距装置之前的检查阶段等经过校正的试验环境下,能够检查、判定光检测器有无异常。但是,若光学测距装置被车载,则例如在屋外照明环境下,干扰光等光入射到光检测器。由于该干扰光的入射而产生电流,难以与暗电流区分。因此,存在在车载光学测距装置之后,难以判定光检测器有无异常这样的问题。因此,要求即使在车载光学测距装置之后也能够容易地判定光检测器有无异常的技术。此外,该课题并不限定于由SPAD构成的情况,在由CCD或者CMOS传感器构成的情况下也同样地产生。
发明内容
根据本公开的一个方式,提供光学测距装置。该光学测距装置具备:光检测器,输出与接受的光量对应的输出信号;扫描型扫描仪,切换为使外部的光入射到上述光检测器的状态、和不使外部的光入射到上述光检测器的暗状态;以及异常判定器,使用判定阈值和从上述暗状态下的上述光检测器输出的输出信号来判断上述光检测器的劣化状态。根据该方式,由于异常判定器通过扫描型扫描仪切换到暗状态,所以能够在不受到光的影响的状态下判定光检测器有无异常。
附图说明
图1是表示车辆和搭载在车辆上的光学测距装置的说明图,
图2是表示光学测距装置的概略结构的说明图,
图3是表示第一暗状态的说明图,
图4是表示第二暗状态的说明图,
图5是表示光检测器的动作时间和暗状态的每单位时间的脉冲的数目的说明图,
图6是表示温度与判定阈值的关系的说明图,
图7是表示光检测器的结构的说明图,
图8是在暗状态下异常判定器执行的像素单元有无异常的判断流程图,
图9是表示执行图8的流程图的结果的一个例子的说明图,
图10是异常判定器执行的是否停止光检测器的判断流程图,
图11是表示进行了异常判定的像素单元相邻的情况下的例子的说明图。
具体实施方式
·整体结构:
如图1所示,光学测距装置10搭载在车辆100上,测定到对象物200的距离L。具体而言,光学测距装置10使用从向对象物200发出发光光束IL开始到接受发光光束IL碰上对象物200而返回来的反射光RL为止的时间TOF来测定到对象物200的距离L。若将c设为光速,则L=c·TOF/2。
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