[发明专利]图像处理装置、图像处理程序及图像处理方法在审

专利信息
申请号: 202080016784.0 申请日: 2020-05-25
公开(公告)号: CN113574367A 公开(公告)日: 2021-10-29
发明(设计)人: 海野达哉;木村宪一郎 申请(专利权)人: 株式会社前川制作所
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046;G01V5/00;G06T7/00;G06T7/73
代理公司: 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 代理人: 王达佐;王艳春
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 图像 处理 装置 程序 方法
【说明书】:

图像处理装置获得描绘取预定姿势和预定形状的被摄物体的图像、第一参照图像和第二参照图像,其中,第一参照图像描绘取已知与预定姿势的关系的第一姿势和已知与预定形状的关系的第一形状的被摄物体,第二参照图像描绘取与预定姿势不同的第二姿势和与预定形状不同的第二形状中的至少一个的被摄物体,并且提取表示在图像中描绘的被摄物体的特征的特征数据,提取表示在第一参照图像中描绘的被摄物体的特征的第一参照数据,提取表示在第二参照图像中描绘的被摄物体的特征的第二参照数据,并使用第一参照数据确定在第一参照图像中由特征数据表示的特征所在的部位,第一姿势与第二姿势之间的关系以及第一形状与第二形状之间的关系中的至少一个确定在取第二姿势和第二形状中的至少一个的被摄物体中由特征数据表示的特征所在的部位。

技术领域

本发明涉及图像处理装置、图像处理程序及图像处理方法。

背景技术

近年来,将立体地描绘出被摄物体的立体图像和描绘出该被摄物体的图像组合使用的技术在各种领域中得到有效地应用。例如,在专利文献1中公开了一种技术,其具有以下步骤:在放射线透射图像中确定检查位置的透射像的位置;以及根据透射像的位置确定三维图像中的检查位置。

现有技术文献

专利技术文献

专利技术文献1:日本专利公开第2019-060808号公报

但是,在专利文献1的技术中,使保持有作为被检查体的基板的基板保持部和检测器相对于放射线产生器相对移动而获得多个透射图像,确定所有这些透射图像的共同的图案和标记的像在重构图像上的位置来决定检查面图像。即,在专利文献1的技术中,只要多个透射图像中没有共同的图案或标记的像,就不能决定检查面图像。

另一方面,例如,在食品加工的领域中,由于与食品加工线的布局、生产效率等有关的制约,有时要求在对被摄物体的图像进行拍摄,利用机械臂对被摄物体实施输送、切割等处理之后使用该图像。然而,由于该处理可能改变被摄物体的姿势和形状中的至少一个,因此可能不能使用该图像。

发明内容

发明要解决的课题

因此,本发明的目的在于提供一种图像处理装置、图像处理程序及图像处理方法,即使在被摄物体的姿势以及形状中的至少一个改变之后,也能够使用在被摄物体的姿势以及形状中的至少一个改变之前所拍摄的图像。

解决问题所需的手段

(1)为了解决上述问题,本发明一方式的图像处理装置具备:获得部,其获得描绘取预定姿势和预定形状的被摄物体的图像、第一参照图像和第二参照图像,其中,所述第一参照图像描绘取已知与所述预定姿势的关系的第一姿势和已知与所述预定形状的关系的第一形状的所述被摄物体,所述第二参照图像描绘取与所述预定姿势不同的第二姿势和与所述预定形状不同的第二形状中的至少一个的所述被摄物体;以及确定部,其提取表示在所述图像中描绘的所述被摄物体的特征的特征数据,提取表示在所述第一参照图像中描绘的所述被摄物体的特征的第一参照数据,提取表示在所述第二参照图像中描绘的所述被摄物体的特征的第二参照数据,并使用所述第一参照数据确定在所述第一参照图像中由所述特征数据表示的特征所在的部位,使用从所述第一参照数据导出的所述被摄物体的所述第一姿势与从所述第二参照数据导出的所述被摄物体的所述第二姿势之间的关系、以及从所述第一参照数据导出的所述被摄物体的所述第一形状与从所述第二参照数据导出的所述被摄物体的所述第二形状之间的关系中的至少一个确定在取所述第二姿势和所述第二形状中的至少一个的所述被摄物体中由所述特征数据表示的特征所在的部位。

(2)在上述(1)的方式的图像处理装置中,所述确定部也可以执行使用所述第一参照数据确定所述第一姿势的处理和使用所述第二参照数据确定所述第二姿势的处理中的至少一个。

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