[实用新型]一种信号选通装置、芯片测试装置有效
申请号: | 202023348442.5 | 申请日: | 2020-12-31 |
公开(公告)号: | CN214174564U | 公开(公告)日: | 2021-09-10 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 浙江地芯引力科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 曹瑞敏 |
地址: | 311215 浙江省杭州市萧*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 信号 装置 芯片 测试 | ||
1.一种信号选通装置,其特征在于,所述信号选通装置包括:导通控制模块、译码模块、电流采样模块以及电压调节模块;
所述译码模块、所述电流采样模块以及所述电压调节模块分别与所述导通控制模块连接;
所述导通控制模块包括多个开关,所述多个开关以开关矩阵方式相互连接;
所述译码模块用于接收测试控制指令,并根据所述测试控制指令控制所述导通控制模块中的各开关的打开或关闭,以通过所述电压调节模块向与所述导通控制模块连接的被测试芯片供电,以及使所述电流采样模块接收来自所述被测试芯片的测试信号。
2.根据权利要求1所述的信号选通装置,其特征在于,所述译码模块包括:微处理单元、译码器以及驱动电路;
所述译码器的输入端与所述微处理单元连接,所述译码器的输出端与所述驱动电路连接;
所述微处理单元用于接收所述测试控制指令,将所述测试控制指令转换为所述译码器可识别的控制信号,并将所述控制信号输入所述译码器;
所述译码器用于使用所述控制信号控制所述驱动电路,以使得所述驱动电路在所述译码器的控制下,驱动所述导通控制模块中的各开关元件的打开或关闭。
3.根据权利要求1所述的信号选通装置,其特征在于,所述电流采样模块的输入端与所述导通控制模块的第一开关连接,所述电流采样模块的输出端与所述导通控制模块的第二开关连接,所述第一开关和所述第二开关分别为所述导通控制模块所组成的所述开关矩阵中的边缘开关。
4.根据权利要求1所述的信号选通装置,其特征在于,所述电压调节模块的输入端用于接收调压控制指令,所述电压调节模块的输出端与所述导通控制模块的第三开关连接,所述第三开关为所述导通控制模块所组成的所述开关矩阵中的边缘开关。
5.根据权利要求1所述的信号选通装置,其特征在于,所述导通控制模块包括:第四开关、第五开关以及第六开关,所述第四开关、第五开关以及第六开关分别为所述导通控制模块所组成的所述开关矩阵中的边缘开关;
所述第四开关用于输出测试电流信号;
所述第五开关用于输出测试电压信号;
所述第六开关用于输出数字逻辑信号。
6.根据权利要求1所述的信号选通装置,其特征在于,所述导通控制模块包括:至少一个第七开关,各所述第七开关为所述导通控制模块所组成的所述开关矩阵中的边缘开关;
各所述第七开关分别用于连接所述被测试芯片的一个接口。
7.根据权利要求1-6任一项所述的信号选通装置,其特征在于,所述导通控制模块的开关包括如下至少一项:模拟开关、MOS管、继电器。
8.一种芯片测试装置,其特征在于,所述芯片测试装置包括如权利要求1-7任一项所述的信号选通装置以及主控制器;
所述主控制器与信号选通装置的译码模块连接;
所述主控制器用于向所述信号选通装置发送测试控制指令,以及接收来自所述信号选通装置的测试电流信号、测试电压信号以及数字逻辑信号,根据所述测试电流信号、测试电压信号以及数字逻辑信号得到被测试芯片的测试结果。
9.根据权利要求8所述的芯片测试装置,其特征在于,所述主控制器还与所述信号选通装置的电压调节模块连接;
所述主控制器还用于向所述信号选通装置中的电压调节模块发送调压控制指令。
10.根据权利要求9所述的芯片测试装置,其特征在于,所述芯片测试装置还包括:接口模块;
所述接口模块的输入端与所述信号选通装置中的导通控制模块连接,所述接口模块的输出端用于连接所述被测试芯片。
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