[实用新型]一种发光器件的寿命测试盒

说明书

本实用新型公开一种发光器件的寿命测试盒，其包括测试盒主体以及与所述测试盒主体转动连接的测试盒盖，所述测试盒主体上设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设置有从下至上依次层叠的温控片和过渡板，所述过渡板上设置有热敏电阻，所述测试盒盖上设置有第二凹槽，所述第二凹槽内设置有光电二极管。本实用新型提供的寿命测试盒具有灵敏度高、响应速度快、温控效果好以及保温效果强的特点，能够高效准确地测量发光器件的寿命。

技术领域

本实用新型涉及发光器件的寿命测试技术领域，尤其涉及一种发光器件的寿命测试盒。

背景技术

通常发光器件的性能可以从发光性能和电学性能两个方面来评价。发光性能主要包括发射光谱、发光亮度、发光效率、发光色度和寿命；而电学性能则包括电流与电压的关系等，这些都是衡量材料和器件性能的主要参数。

发光器件的寿命测试也是衡量器件性能好坏的一个重要指标，在研发阶段多样化的寿命测试对于发光器件的研究显得尤为重要，这样可以找到影响器件寿命的主要因素，然后在制造过程中就可以减小该因素对器件的影响。这些影响因素中，温度对器件的影响是研究者比较关心的一个问题。在实际测试中寿命曲线会出现一些波动，这些波动的原因不确定是环境温度影响还是器件本身的问题。

因此现有技术还有待于改进和发展。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种发光器件的寿命测试盒，旨在解决现有技术在对发光器件进行寿命测试时，无法确定寿命曲线的波动是环境温度影响还是器件本身的问题。

本实用新型的技术方案如下：

一种发光器件的寿命测试盒，其中，包括测试盒主体以及与所述测试盒主体转动连接的测试盒盖，所述测试盒主体上设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设置有温控片以及热敏电阻，所述测试盒盖上设置有用于放置光电二极管的第二凹槽。

所述发光器件的寿命测试盒，其中，所述测试盒主体的外部设置有保温层。

所述发光器件的寿命测试盒，其中，所述第一凹槽内还设置有位于所述温控片上方的过渡板。

所述发光器件的寿命测试盒，其中，所述过渡板与所述温控片之间设置有导热硅脂层。

所述发光器件的寿命测试盒，其中，所述过渡板上远离所述温控片的一面设置有卡槽。

所述发光器件的寿命测试盒，其中，所述热敏电阻通过导热胶固定在所述卡槽上。

所述发光器件的寿命测试盒，其中，所述测试盒主体上设置有开口槽。

所述发光器件的寿命测试盒，其中，所述测试盒主体内设置有温控电路控制器，所述温控电路控制器与所述温控片电连接。

所述发光器件的寿命测试盒，其中，所述光电二极管为硅光二极管。

所述发光器件的寿命测试盒，其中，所述发光器件包括QLED和OLED。

有益效果：本实用新型为了排除外部环境温度对发光器件的寿命测试产生影响，在所述过渡板的下表面设置了温控片，通过所述温控片产生或吸收热量可使寿命测试盒的内部环境保持稳定的温度，从而可以排除外部环境温度对发光器件的寿命曲线产生影响，进而获得准确的发光器件寿命测试数据。

附图说明

图1为本实用新型一种发光器件的寿命测试盒的第一视角爆炸示意图。

图2为本实用新型一种发光器件的寿命测试盒的第二视角爆炸示意图。

图3为本实用新型一种发光器件的寿命测试盒整体结构示意图。

图4为本实用新型发光器件的寿命曲线波动图。

图5为本实用新型发光器件的寿命曲线骤降图。