[实用新型]一种发光器件的寿命测试盒有效
| 申请号： | 202023286323.1 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN214200577U | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | 柳春美;芦子哲;贺晓光;洪佳婷;严围 | 申请（专利权）人： | TCL科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人： | 徐凯凯 |
| 地址： | 516006 广东省惠州市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 发光 器件 寿命 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种发光器件的寿命测试盒，其特征在于，包括测试盒主体以及与所述测试盒主体转动连接的测试盒盖，所述测试盒主体上设置有第一凹槽，所述第一凹槽内设置有温控片以及热敏电阻，所述测试盒盖上设置有用于放置光电二极管的第二凹槽。
2.根据权利要求1所述发光器件的寿命测试盒，其特征在于，所述测试盒主体的外部设置有保温层。
3.根据权利要求1所述发光器件的寿命测试盒，其特征在于，所述第一凹槽内还设置有位于所述温控片上方的过渡板。
4.根据权利要求3所述发光器件的寿命测试盒，其特征在于，所述过渡板与所述温控片之间设置有导热硅脂层。
5.根据权利要求3所述发光器件的寿命测试盒，其特征在于，所述过渡板上远离所述温控片的一面设置有卡槽。
6.根据权利要求5所述发光器件的寿命测试盒，其特征在于，所述热敏电阻通过导热胶固定在所述卡槽上。
7.根据权利要求1所述发光器件的寿命测试盒，其特征在于，所述测试盒主体上设置有开口槽。
8.根据权利要求1所述发光器件的寿命测试盒，其特征在于，所述测试盒主体内设置有温控电路控制器，所述温控电路控制器与所述温控片电连接。
9.根据权利要求1所述发光器件的寿命测试盒，其特征在于，所述光电二极管为硅光二极管。
10.根据权利要求1所述发光器件的寿命测试盒，其特征在于，所述发光器件包括QLED和OLED。
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