[实用新型]直流恢复模块及光电检测电路有效

专利信息
申请号: 202023171717.2 申请日: 2020-12-24
公开(公告)号: CN213906635U 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 张帅;杨文伟;许霞;季烨程;夏轩;徐雪阳;潘素敏 申请(专利权)人: 上海新微技术研发中心有限公司
主分类号: H03F3/68 分类号: H03F3/68;H03F3/45;H03F1/26
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 施婷婷
地址: 201800 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 直流 恢复 模块 光电 检测 电路
【说明书】:

实用新型提供一种直流恢复模块及光电检测电路,包括:跨导运算放大器,接收跨阻放大器的输出信号,将所述跨阻放大器的输出信号与参考信号的电压差放大输出;电流镜,接收所述跨导运算放大器的输出信号,并以设定比例镜像输出至所述跨阻放大器的输入端,进而消除光信号检测模块输出信号中的直流电流分量对所述跨阻放大器的影响。本实用新型的直流恢复模块及光电检测电路通过直流恢复模块消除直流电流分量对电路整体性能的干扰影响;同时利用跨导运算放大器和电流镜的组合减小电流镜输出漏电流对低频截止频率的影响,进而减小光电检测电路的频率响应变化。

技术领域

本实用新型涉及电路设计领域,特别是涉及一种直流恢复模块及光电检测电路。

背景技术

光电检测技术是光学与电子学相结合而产生的一门新兴检测技术。它主要利用电子技术对光学信号进行检测,并进一步传递、储存、控制、计算和显示。光电检测技术从原理上讲可以检测一切能够影响光量和光特性的非电量,它可通过光学系统把待检测的非电量信息变换成为便于接受的光学信息,然后用光电探测器件将光学信息量变换成电量,并进一步经过电路放大、处理,以达到电信号输出的目的;然后采用电子学、信息论、计算机及物理学等方法分析噪声产生的原因和规律,以便于进行相应的电路改进,更好地研究被噪声淹没的微弱有用信号的特点与相关性,从而了解非电量的状态。光电检测技术在非电量检测领域的应用越来越广泛。

光电检测器是光电检测技术的前端核心部分,其将光信号转换为电信号并初步放大后输出给后级电路进行信号处理,光电检测器的性能直接影响检测结果的准确性。因此,如何提高光电检测器的性能以成为本领域技术人员亟待解决的问题之一。

实用新型内容

鉴于以上所述现有技术的缺点,本实用新型的目的在于提供一种直流恢复模块及光电检测电路,用于解决现有技术中光电检测器的性能不够优越的问题。

为实现上述目的及其他相关目的,本实用新型提供一种直流恢复模块,所述直流恢复模块至少包括:

跨导运算放大器,接收跨阻放大器的输出信号,将所述跨阻放大器的输出信号与参考信号的电压差放大输出;

电流镜,接收所述跨导运算放大器的输出信号,并以设定比例镜像输出至所述跨阻放大器的输入端,进而消除所述跨阻放大器输入信号中的直流电流分量对所述跨阻放大器的影响。

可选地,所述跨导运算放大器包括第一级放大单元及第二级放大单元;

所述第一级放大单元采用差分输入单端输出结构,差分输入端分别接收所述跨阻放大器的输出信号及所述参考信号,并将所述跨阻放大器的输出信号与所述参考信号的差值放大输出;

所述第二级放大单元连接所述第一级放大单元的输出端,将所述第一级放大单元的输出信号进一步放大输出。

更可选地,所述第一级放大单元包括第一NMOS管、第二NMOS管、第三NMOS管、第一PMOS管及第二PMOS管;

所述第一NMOS管及所述第二NMOS管的源极经由所述第三NMOS管接地,所述第三NMOS管的栅极连接偏置电压;所述第一NMOS管及所述第二NMOS管的栅极作为所述第一级放大单元的差分输入端;所述第一NMOS管的漏极连接所述第一PMOS管的漏极及栅极,所述第一PMOS管的源极连接电源电压;所述第二PMOS管的源极连接所述电源电压,栅极连接所述第一PMOS管的栅极,漏极连接所述第二NMOS管的漏极并作为所述第一级放大单元的输出端。

更可选地,所述第一级放大单元还包括低通滤波器,所述低通滤波器连接于所述跨阻放大器的输出端与所述跨导运算放大器的输入端之间。

更可选地,所述第二级放大单元包括第三PMOS管及第四NMOS管;

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