[实用新型]一种用于半导体原件的快速测试装夹机构

权利要求书

1.一种用于半导体原件的快速测试装夹机构，包括底座（1），其特征在于：所述底座（1）下端四角均固定安装有支撑柱（2），四个所述支撑柱（2）下端固定安装有固定块（8），所述底座（1）上端四角均固定安装有支柱（3），四个所述支柱（3）上端固定安装有固定板（4），所述底座（1）上端左部和上端右部均固定安装有夹持装置（5），所述夹持装置（5）上端中部设置有连接板（9），所述夹持装置（5）上端左部和上端右部均开有滑槽（10），所述夹持装置（5）上端前部设置有调节器（7），所述固定板（4）上端左部和上端右部均固定安装有升降测试装置（6），所述升降测试装置（6）贯穿固定板（4）并向下延伸。

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体原件的快速测试装夹机构，其特征在于：所述夹持装置（5）包括固定座（51），所述固定座（51）前端设置有立柱（52），所述立柱（52）后端上部和后部下部均穿插连接有连接柱（53），所述连接柱（53）后端中部穿插连接有调节栓（54），所述调节栓（54）远离连接柱（53）的一端活动套接有螺帽（55），所述固定座（51）前端上部和前端下部均开有连接孔（56），所述固定座（51）固定在底座（1）上端左部和上端右部。

3.根据权利要求2所述的一种用于半导体原件的快速测试装夹机构，其特征在于：所述调节栓（54）贯穿连接孔（56）并向后延伸，所述螺帽（55）和固定座（51）后端面紧贴但不固定。

4.根据权利要求1所述的一种用于半导体原件的快速测试装夹机构，其特征在于：所述升降测试装置（6）包括升降机（61），所述升降机（61）下端固定连接有升降柱（62），所述升降柱（62）下端活动连接有活动柱（63），所述活动柱（63）下端固定连接有测试器（64），所述测试器（64）内部下侧固定连接有若干个测试头（65），所述升降机（61）固定在固定板（4）上端左部。

5.根据权利要求4所述的一种用于半导体原件的快速测试装夹机构，其特征在于：所述升降测试装置（6）设置为两个，且两个升降测试装置（6）呈左右对称分布，两个所述测试器（64）位于两个连接板（9）正上方。

6.根据权利要求1所述的一种用于半导体原件的快速测试装夹机构，其特征在于：所述调节器（7）包括调节板（71），所述调节板（71）前端穿插连接有调节柱（72），所述调节柱（72）外表后侧设置有缓冲弹簧（75），所述调节板（71）下端左部和下端右部均固定连接有滑块（73），所述调节柱（72）远离调节板（71）的一端活动套接有螺母（74），所述调节板（71）通过两个滑块（73）滑动连接在固定座（51）上端前部。