[实用新型]一种电致荧光发光寿命探测系统

说明书

本实用新型公开了一种电致荧光发光寿命探测系统，涉及荧光技术领域，包括倒置光学显微镜，所述倒置光学显微镜的样品台正下方设置有物镜，所述样品台上对应于物镜的位置固定放置有荧光探测的样品，所述样品的两端被施加电场；所述物镜的正下方设置有全反镜；所述倒置光学显微镜的一侧设置有隔光的外壳，所述外壳内设置有聚焦镜、可调节针孔、扩束镜以及光学探测器。本实用新型从电能‑光能角度来研究样品属性，通过精确控制电压的幅值，控制电压形成固定间隔的精确脉冲序列，并可以对电压脉冲进行整形，以达到从时间和能量密度两个维度上精确激发样品，更准确的对电致发光进行量化测量，从而得出荧光寿命值。

技术领域

本实用新型涉及荧光技术领域，尤其涉及一种电致荧光发光寿命探测系统。

背景技术

物体发出的荧光，含有多种光物理性质。例如，判断单分子镀膜的均匀性，光伏太阳能电池材料的光电转化及存储效率，分子间的能量传递，大分子蛋白的构型，细胞内的物质转移特性等。都可以通过对其荧光寿命的测量来进行有效的量化标定。荧光作为一种光能，是由其他相同或不同形式的能量转化而来，常见的形式有，光能之间的互相转化，由能量较高的短波长光能刺激样品，经过能级跃迁及内转化能机理，样品发射出能量较低的长波长的荧光，此种实验方式现阶段较为常见。此外，还有多种新兴的实验形式，例如本专利所提出的电能激发方式，在样品特定区域两端施加合适的电压，样品吸收电能后，转化为光能通过荧光的形式发射出来。通过对电压施加的时间周期进行精确同步，然后再对发射出的荧光进行有效探测，从而得出(一般在纳秒维度的)荧光寿命值。

实用新型内容

为了克服现有技术中相关产品的不足，本实用新型提出一种电致荧光发光寿命探测系统，检测荧光自身属性中的荧光寿命参数，可以实现微观区域内的电致荧光寿命成像，寿命拟合分析的实验测量。

本实用新型提供了一种电致荧光发光寿命探测系统，包括：倒置光学显微镜，所述倒置光学显微镜的样品台正下方设置有物镜，所述样品台上对应于物镜的位置固定放置有荧光探测的样品，所述样品的两端被施加电场；所述物镜的正下方设置有全反镜；所述倒置光学显微镜的一侧设置有隔光的外壳，所述外壳内设置有聚焦镜、可调节针孔、扩束镜以及光学探测器，所述全反镜、聚焦镜、可调节针孔、扩束镜以及光学探测器依次同轴设置。

在本实用新型的某些实施方式中，所述扩束镜和光学探测器之间的光路中还设置有滤光片。

在本实用新型的某些实施方式中，所述扩束镜和光学探测器之间的光路中还设置有偏振片。

与现有技术相比，本实用新型有以下优点：

本实用新型利用与常见的光能刺激导致荧光激发的手段不同的电能激发，从电能-光能角度来研究样品属性，通过精确控制电压的幅值，控制电压形成固定间隔的精确脉冲序列，并可以对电压脉冲进行整形，以达到从时间和能量密度两个维度上精确激发样品，更准确的对电致发光进行量化测量，从而得出荧光寿命值。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型所述电致荧光发光寿命探测系统的结构示意图。

附图标记说明：

1、倒置光学显微镜；2、样品；3、物镜；4、全反镜；5、外壳；6、聚焦镜；7、可调节针孔；8、扩束镜；9、光学探测器。

具体实施方式