[实用新型]一种电致荧光发光寿命探测系统有效
| 申请号： | 202022697815.3 | 申请日： | 2020-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN213633177U | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 王川;王辉文 | 申请（专利权）人： | 武汉东隆科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/66;G01J3/44;G01J3/443;G01J3/02 |
| 代理公司： | 武汉智慧恒知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42232 | 代理人： | 张扬 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市洪山*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 发光 寿命 探测 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种电致荧光发光寿命探测系统，其特征在于，包括：倒置光学显微镜，所述倒置光学显微镜的样品台正下方设置有物镜，所述样品台上对应于物镜的位置固定放置有荧光探测的样品，所述样品的两端被施加电场；所述物镜的正下方设置有全反镜；所述倒置光学显微镜的一侧设置有隔光的外壳，所述外壳内设置有聚焦镜、可调节针孔、扩束镜以及光学探测器，所述全反镜、聚焦镜、可调节针孔、扩束镜以及光学探测器依次同轴设置。
2.根据权利要求1所述的电致荧光发光寿命探测系统，其特征在于：所述扩束镜和光学探测器之间的光路中还设置有滤光片。
3.根据权利要求1所述的电致荧光发光寿命探测系统，其特征在于：所述扩束镜和光学探测器之间的光路中还设置有偏振片。
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