[实用新型]一种用于模拟无源器件回波损耗能力的待测试样品装置有效
申请号: | 202022545841.4 | 申请日: | 2020-11-06 |
公开(公告)号: | CN213126037U | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
发明(设计)人: | 扈炳孝;韩镝;王晨 | 申请(专利权)人: | 中国信息通信研究院 |
主分类号: | H04B10/07 | 分类号: | H04B10/07 |
代理公司: | 北京领科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11690 | 代理人: | 梁军丽 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 模拟 无源 器件 回波 损耗 能力 测试 样品 装置 | ||
本实用新型提供了一种待测试样品装置,包括光源、光分路器、可调衰减器、发射器,其中光源提供光信号,分路器根据光源提供的光信号输出光信号至可调衰减器第一输入端,所述可调衰减器将输入的信号进行预定衰减后通过第一输出端传送至反射器上,反射器对衰减后的信号进行反射至可调衰减器的第二输入端,所述可调衰减器将衰减后的反射信号通过第二输出端输出至分支器,所述分支器按照预定功率比进行分光输出,探测器根据所述分光输出以及光源光信号进行回波损耗值测试。通过本实用新型,能够模拟多种不同产品可以提供多个不同的回波损耗值供测试,能够达到防串通的结果;该装置不仅可以重复使用,而且出现磨损时,能够通过调节参数恢复原参数。
技术领域
本实用新型涉及能力测试技术领域,尤其涉及一种待测试样品装置,用于模拟无源器件回波损耗能力。
背景技术
现在无源器件回波损耗能力验证的样品一般是直接用现成的产品,比如:管线连接器,光分路器,波分器、光环形器等。使用成品,在多个方面存在不能很好的验证测试能力的问题。
第一,参加者从目前的技术水平,产品的特点大约能够对测试值做出预期,因而有时根据参加者给出的测试值,不能验证出其测试能力水平。尤其是,由于PTP(项目测试计划)提供者不能自己加工,一般也是委托有能力的单位加工或者直接购买,如果生产单位参加能力验证,使用到自己生产的产品进行测试,那么无法保证能力验证的公平性。
第二,由于参与测试的样品无法像化学领域的样品做多份,往往多个测试人员使用通过同一个样品做串行测试,有可能出现参加者之间串通的问题。使用一个样品做串行测试,如果样品损坏,前后测试的数据不一致,可能导致数据无法分析,不能给出能力验证报告。即使样品没有损坏,在测试过程中样品可能受到磨损;如光纤活动连接器,本身回波损耗较小,受影响后可能导致能力验证数据分析无法反映真实水平。
第三,组织进行一次能力验证活动,就需要购置不同的无源器件使用,费用花费比较高。
第四,对于不同能力验证的样品,需要做不同样品传递的说明,不同的能力验证的样品需要做均匀性和稳定性评价,耗费精力。
实用新型内容
鉴于上述问题,提出了本实用新型以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的技术方案。因此,本实用新型的一个方面,提供了一种用于模拟无源器件回波损耗能力的待测试样品装置,该装置包括光源、光分路器、可调衰减器、发射器,其中光源提供光信号,分路器根据光源提供的光信号输出光信号至可调衰减器第一输入端,所述可调衰减器将输入的信号进行预定衰减后通过第一输出端传送至反射器上,反射器对衰减后的信号进行反射至可调衰减器的第二输入端,所述可调衰减器将衰减后的反射信号通过第二输出端输出至分支器,所述分支器按照预定功率比进行分光输出,探测器根据所述分光输出以及光源光信号进行回波损耗值测试。
可选的,该装置包括壳体,所述光分路器、可调衰减器、发射器容置在所述壳体内。
可选的,所述分支器具有多个分光输出端,每个分光输出端与光源光信号提供端构成一个测试通道。
可选的,所述可调衰减器具有校准的不同衰减值用来调节。
可选的,所述可调衰减器具有预先校准的不同的衰减值。
本申请实施例中提供的技术方案,至少具有如下技术效果或优点:本申请提出的装置能够模拟多种不同产品;可以提供多个不同的回波损耗值供测试,能够达到防串通的结果;该装置不仅可以重复使用,而且出现磨损时,能够通过调节参数恢复原参数,而且有特质的外壳保护,减少了损坏的概率。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述,为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本实用新型的上述技术方案和其目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举本实用新型的具体实施方式。
附图说明
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