[实用新型]一种用于模拟无源器件回波损耗能力的待测试样品装置有效
| 申请号: | 202022545841.4 | 申请日: | 2020-11-06 |
| 公开(公告)号: | CN213126037U | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
| 发明(设计)人: | 扈炳孝;韩镝;王晨 | 申请(专利权)人: | 中国信息通信研究院 |
| 主分类号: | H04B10/07 | 分类号: | H04B10/07 |
| 代理公司: | 北京领科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11690 | 代理人: | 梁军丽 |
| 地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 模拟 无源 器件 回波 损耗 能力 测试 样品 装置 | ||
1.一种用于模拟无源器件回波损耗能力的待测试样品装置,其特征在于,该装置包括光源、光分路器、可调衰减器、发射器,其中光源提供光信号,分路器根据光源提供的光信号输出光信号至可调衰减器第一输入端,所述可调衰减器将输入的信号进行预定衰减后通过第一输出端传送至反射器上,反射器对衰减后的信号进行反射至可调衰减器的第二输入端,所述可调衰减器将衰减后的反射信号通过第二输出端输出至分支器,所述分支器按照预定功率比进行分光输出,探测器根据所述分光输出以及光源光信号进行回波损耗值测试。
2.根据权利要求1所述的待测试样品装置,其特征还在于,该装置包括壳体,所述光分路器、可调衰减器、发射器容置在所述壳体内。
3.根据权利要求1所述的待测试样品装置,其特征还在于,所述分支器具有多个分光输出端,每个分光输出端与光源光信号提供端构成一个测试通道。
4.根据权利要求1所述的待测试样品装置,其特征在于,所述可调衰减器具有校准的不同衰减值用来调节。
5.根据权利要求4所述的待测试样品装置,其特征在于,所述可调衰减器具有预先校准的不同的衰减值。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国信息通信研究院,未经中国信息通信研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202022545841.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种文书痕迹显现装置
- 下一篇:一种热转印塑料钮扣





