[实用新型]一种用于模拟无源器件回波损耗能力的待测试样品装置有效

专利信息
申请号: 202022545841.4 申请日: 2020-11-06
公开(公告)号: CN213126037U 公开(公告)日: 2021-05-04
发明(设计)人: 扈炳孝;韩镝;王晨 申请(专利权)人: 中国信息通信研究院
主分类号: H04B10/07 分类号: H04B10/07
代理公司: 北京领科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11690 代理人: 梁军丽
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 模拟 无源 器件 回波 损耗 能力 测试 样品 装置
【权利要求书】:

1.一种用于模拟无源器件回波损耗能力的待测试样品装置,其特征在于,该装置包括光源、光分路器、可调衰减器、发射器,其中光源提供光信号,分路器根据光源提供的光信号输出光信号至可调衰减器第一输入端,所述可调衰减器将输入的信号进行预定衰减后通过第一输出端传送至反射器上,反射器对衰减后的信号进行反射至可调衰减器的第二输入端,所述可调衰减器将衰减后的反射信号通过第二输出端输出至分支器,所述分支器按照预定功率比进行分光输出,探测器根据所述分光输出以及光源光信号进行回波损耗值测试。

2.根据权利要求1所述的待测试样品装置,其特征还在于,该装置包括壳体,所述光分路器、可调衰减器、发射器容置在所述壳体内。

3.根据权利要求1所述的待测试样品装置,其特征还在于,所述分支器具有多个分光输出端,每个分光输出端与光源光信号提供端构成一个测试通道。

4.根据权利要求1所述的待测试样品装置,其特征在于,所述可调衰减器具有校准的不同衰减值用来调节。

5.根据权利要求4所述的待测试样品装置,其特征在于,所述可调衰减器具有预先校准的不同的衰减值。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国信息通信研究院,未经中国信息通信研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202022545841.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top