[实用新型]一种碳化硅MOSFET器件有效
| 申请号: | 202022516379.5 | 申请日: | 2020-11-03 |
| 公开(公告)号: | CN214176042U | 公开(公告)日: | 2021-09-10 |
| 发明(设计)人: | 杨进;姚强 | 申请(专利权)人: | 西安精匠华鹤电子科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06 |
| 代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 高晓倩 |
| 地址: | 710000 陕西省西安市雁塔区锦业*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 碳化硅 mosfet 器件 | ||
本实用新型涉及一种碳化硅MOSFET器件,包括:自下而上依次层叠设置的漏极、衬底和外延区;P型阱区,设置在外延区中,P型阱区的上表面高于外延区的上表面;N源区,设置在外延区中且与P型阱区相邻设置,N源区的上表面高于外延区的上表面;N+注入区和P+注入区,相邻设置在P型阱区中;栅极绝缘层,设置在外延区上且至少部分覆盖N+注入区;栅极,设置在栅极绝缘层上。本实用新型的碳化硅MOSFET器件,没有双极性退化效应,在高温、高频等应用工况下更有优势。
技术领域
本实用新型属于半导体技术领域,具体涉及一种碳化硅MOSFET器件。
背景技术
随着碳化硅工艺技术的不断成熟以及成本的不断下降,碳化硅功率器件在新一代电力电子器件应用中越来越重要。碳化硅作为宽禁带半导体,有着禁带宽度大、临界击穿电场高、热导率高、载流子饱和速度高等特点。与传统的硅器件相比,具有更高的工作温度、更高的功率密度、同时开关损耗更低。
SiC MOSFET有着卓越的开关损耗和超小的导通损耗,带来系统整个体积和其他成本的下降。不同的芯片配置,可以有效的减小器件的损耗,例如SiC MOSFET+SiC二极管的组合输出电流能力比IGBT+SiC二极管要大, SiC MOSFET+SiC二极管的组合可以工作在高频,减小系统的成本和体积。 SiC功率模块可以增强变流器的性能,全SiC芯片可以用更小的体积实现更高耐压、更低损耗,给牵引变流系统和电力传输系统的研发设计带来更多便利。一方面3.3kV全SiC功率器件已经在牵引变流器中得到应用,有着显著的节能、减小变流器体积和重量等作用;另一方面6.5kV Si IGBT器件已经用于高铁和电力传输系统,因此迫切需要研发替代6.5kV SiC功率器件的碳化硅MOSFET器件,已达到显著节能、减小变流器体积和重量等有益效果。
实用新型内容
为了解决现有技术中存在的上述问题,本实用新型提供了一种碳化硅 MOSFET器件。本实用新型要解决的技术问题通过以下技术方案实现:
本实用新型提供了一种碳化硅MOSFET器件,包括:
自下而上依次层叠设置的漏极、衬底和外延区;
P型阱区,设置在所述外延区中,所述P型阱区的上表面高于所述外延区的上表面;
N源区,设置在所述外延区中且与所述P型阱区相邻设置,所述N源区的上表面高于所述外延区的上表面;
N+注入区和P+注入区,相邻设置在所述P型阱区中;
栅极绝缘层,设置在所述外延区上且至少部分覆盖所述N+注入区;
栅极,设置在所述栅极绝缘层上。
在本实用新型的一个实施例中,所述栅极绝缘层延伸以至少部分覆盖所述外延区的上表面,所述栅极还形成在覆盖所述P型阱区侧壁的所述栅极绝缘层上。
在本实用新型的一个实施例中,所述碳化硅MOSFET器件还包括:
源极,设置在所述N+注入区、所述P+注入区以及所述N源区上且部分覆盖所述N+注入区。
在本实用新型的一个实施例中,所述源极(10)与所述N源区是肖特基接触。
在本实用新型的一个实施例中,所述碳化硅MOSFET器件还包括:层间绝缘层,所述层间绝缘层覆盖在所述栅极上。
在本实用新型的一个实施例中,所述衬底为碳化硅n+掺杂。
在本实用新型的一个实施例中,所述外延区为碳化硅n-掺杂。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果在于:
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