[实用新型]一种半导体检测用方便使用的椭偏仪有效

专利信息
申请号: 202022283062.1 申请日: 2020-10-14
公开(公告)号: CN213422227U 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: 欧艳艳;于国斌 申请(专利权)人: 于国斌
主分类号: G01D11/30 分类号: G01D11/30
代理公司: 广州人才汇进知识产权代理事务所(普通合伙) 44763 代理人: 袁翔
地址: 510000 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 检测 方便 使用 椭偏仪
【权利要求书】:

1.一种半导体检测用方便使用的椭偏仪,包括横板(1),其特征在于:所述横板(1)顶部的两侧均固定连接有第一壳体(2),所述横板(1)的底部固定连接有第二壳体(3),所述横板(1)顶部的两侧均通过轴承活动连接有螺纹杆(4),所述螺纹杆(4)的表面螺纹连接有螺纹套(5),所述螺纹套(5)相对的一侧固定连接有机体(6),所述螺纹杆(4)的底部固定连接有第一链轮(7),所述横板(1)顶部的两侧均固定连接有限位杆(8),所述限位杆(8)的表面套设有限位套(9),所述限位套(9)的表面与螺纹套(5)的表面固定连接,所述第二壳体(3)内腔的底部固定连接有电机(10),所述电机(10)的输出端固定连接有第二链轮(11),所述第二链轮(11)与第一链轮(7)通过链条传动连接,所述螺纹杆(4)和限位杆(8)的顶部均固定连接有限位块(12)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用方便使用的椭偏仪,其特征在于:所述第二壳体(3)底部的两侧均固定连接有支腿(13),所述支腿(13)的底部固定连接有防滑垫(14)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体检测用方便使用的椭偏仪,其特征在于:所述第一壳体(2)正面的顶部开设有收容槽(15),所述收容槽(15)的内壁固定连接有铭牌(16)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体检测用方便使用的椭偏仪,其特征在于:所述第一壳体(2)正面的顶部固定连接有控制面板(17),所述第二壳体(3)背面底部的右侧固定连接有接线盒(18)。

5.根据权利要求1所述的一种半导体检测用方便使用的椭偏仪,其特征在于:所述第二壳体(3)背面的底部通过铰链活动连接有检修门(19),所述检修门(19)的表面贯穿设置有锁芯(20)。

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