[实用新型]一种提高NTC温度采样精度的电路

说明书

本实用新型公开了一种提高NTC温度采样精度的电路，属于温度测量技术领域，包括：基准电压VCC端；MCU控制开关电器件，MCU控制开关电器件包括三个并联的第一开关S1、第二开关S2和第三开关S3，基准电压VCC端分别与第一开关S1、第二开关S2和第三开关S3的输入端连接；电阻机构，电阻机构包括三个并联的第一常规电阻R1、第二常规电阻R2和第三常规电阻R3，第一开关S1、第二开关S2和第三开关S3的输出端分别第一常规电阻R1、第二常规电阻R2和第三常规电阻R3的输入端连接。本实用新型实际通过优化可实现全温度范围内热敏电阻NTC采样温度精度达±1℃，传统方法仅能达到±3℃，对温度有更高的采集精度。

技术领域

本实用新型涉及温度测量技术领域，更具体地说，涉及一种提高NTC温度采样精度的电路。

背景技术

在电子行业中，经常需要进行对环境或者特定部件的温度测量，以实现温度监控或温度保护。通常采用NTC器件来实现低成本的温度采集。请参阅图3，如图3所示，热敏电阻一端接地另一端与一颗固定阻值的上拉电阻连接，形成分压，MCU通过采集该电压变化，来反推出热敏电阻的阻值，通过查找不同的阻值对应的温度，来计算出当前热敏电阻感应不同的温度。

推演公式：MCU采样的分压电压V(mcu_ad)＝VCC*R1/(Rntc1+R1)。通过该电压和公式反向计算出Rntc1＝R1(VCC/V(mcu_ad)-1)，通过查找不同温度下的NTC对应的阻值表，请参阅图4，如图4所示，即可得出当前的温度。

由图4可知，由于NTC的阻值与温度呈非线性电阻变化，固定的上拉阻值会造成分压电压即V(mcu_ad)在高温区和低温区的变化比例变小(斜率较低)，如图4中的(采集电压V(mcu_ad)/VCC)％曲线所示，由于MCU采样存在分辨率问题，存在采样精度问题，由于高温度和低温场景每℃改变电压变化较小，以致根据上述公式计算转换后的Rntc1温度误差偏大，难以满足高精度的温度测量及温度保护需求。

实用新型内容

1.要解决的技术问题

针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种提高NTC 温度采样精度的电路，本实用新型实际通过优化可实现全温度范围内热敏电阻NTC采样温度精度达±1℃，传统方法仅能达到±3℃，对温度有更高的采集精度，对电子系统的温度保护更精确，可有效防止安全事故的发生。

2.技术方案

为解决上述问题，本实用新型采用如下的技术方案：

一种提高NTC温度采样精度的电路，包括：

基准电压VCC端；

MCU控制开关电器件，所述MCU控制开关电器件包括三个并联的第一开关 S1、第二开关S2和第三开关S3，所述基准电压VCC端分别与第一开关S1、第二开关S2和第三开关S3的输入端连接；

电阻机构，所述电阻机构包括三个并联的第一常规电阻R1、第二常规电阻R2和第三常规电阻R3，所述第一开关S1、第二开关S2和第三开关S3的输出端分别第一常规电阻R1、第二常规电阻R2和第三常规电阻R3的输入端连接；

MCU采样电压端，第一常规电阻R1、第二常规电阻R2、第三常规电阻R3 的输出端均与MCU采样电压端的输入端连接；

热敏电阻RNTC，所述MCU采样电压端的输出端与热敏电阻RNTC的输入端连接；以及

GND接地端，所述热敏电阻RNTC的输出端与GND接地端连接。本实用新型实际通过优化可实现全温度范围内热敏电阻NTC采样温度精度达±1℃，传统方法仅能达到±3℃，对温度有更高的采集精度，对电子系统的温度保护更精确，可有效防止安全事故的发生。

作为本实用新型的一种优选方案，所述第一开关S1、第二开关S2和第三开关S3采用MOS晶体管或三极管。