[实用新型]一种液晶模组显示测试装置及系统有效
| 申请号: | 202022163439.X | 申请日: | 2020-09-27 |
| 公开(公告)号: | CN213581653U | 公开(公告)日: | 2021-06-29 |
| 发明(设计)人: | 田永华 | 申请(专利权)人: | 苏州华兴源创科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13 |
| 代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 张雪梅 |
| 地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 液晶 模组 显示 测试 装置 系统 | ||
本实用新型提供一种液晶模组显示测试装置及系统,该液晶模组显示测试装置包括:第一缓冲器,接收液晶模组显示测试信号中的第一信号;第二缓冲器,接收液晶模组显示测试信号中的第二信号;以及至少一个信号整合器,每个信号整合器包括两个输入端和一输出端,该两个输入端分别耦接所述第一缓冲器和所述第二缓冲器,所述输出端与待测液晶模组产品耦接,本实用新型提供的液晶模组显示测试装置,操作简单,适用性广,易于实现与应用,采用多个信号整合器分别与多个待测液晶模组产品耦接的方式,不仅增加了通道数量,能够同时检测多个显示模组,提高了检测效率,而且解决了能耗高的问题,减轻了操作人员的劳动难度和强度,降低安全风险。
技术领域
本实用新型涉及液晶显示测试技术领域,更具体的,涉及一种液晶模组显示测试装置及系统。
背景技术
随着通讯、媒体、游戏等领域技术的快速发展,液晶显示器的应用范围不断的增加。液晶显示模组包括很多种类型,如彩色超级扭曲向列(Color Super Twisted Nematic,CSTN),超级扭曲向列(Super Twisted Nematic,STN),扭曲排列型(Twisted Nematic,TN),薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)等,随着液晶显示模组的越来越广泛的应用,对液晶显示模组性能、功能的测试显得尤为重要。因此,液晶显示模组在出厂前需要进行多种测试,其中包括点亮显示屏后的色度、亮度、mura等缺陷检测,其中,Mura缺陷是TFT-LCD中一类常见的视觉缺陷,表现为低对比度、非均匀亮度区域,边缘模糊,会给观察者带来视觉不适,同时Mura缺陷也是视觉缺陷中最为复杂和最难检测的,目前行业内通常采用经过专业训练的检测人员根据限度样本用人眼比对的方法进行检测,不可避免地引入主观认定等因素,容易产生不可靠的判定结果,且效率较低。
目前,国内液晶显示模组生产厂家对其生产的液晶显示模组在出厂前进行多种测试,以便及时发现显示模组的问题并修复。测试方法主要有两种:基于人工测试方法和基于PG检查机的测试方法。其中,基于人工的测试方法仅能完成部分功能、性能的检测,测试效率较低、成本较高、且测试结果受测试人员专业素质的影响;比如,专利201310320130.9公开了一种用于检测LCD和背光模组的装置及其检测方法,该装置虽能进行LCD显示装置的检测,由于采用人工观测,测试效率、准确性较低;基于PG检查机的测试方法通过电连接线将信号输出至显示模组点亮,然而该设计会由于显示线路过长导致的显示信号频率最大在1.2G时,信号噪声大,图像显示抖动,而且输出信号仅为单通道输出,无法同时检测多个显示模组,测试效率低下。
因此,需要一种新的液晶模组显示测试装置及系统。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种液晶模组显示测试装置及系统,以解决现有技术中存在的问题中的至少一个;
为达到上述目的,本实用新型采用下述技术方案:
本实用新型第一方面实施方式提供一种液晶模组显示测试装置,该液晶模组显示测试装置包括:
第一缓冲器,接收液晶模组显示测试信号中的第一信号;第二缓冲器,接收液晶模组显示测试信号中的第二信号;以及至少一个信号整合器,每个信号整合器包括两个输入端和一输出端,该两个输入端分别耦接所述第一缓冲器和所述第二缓冲器,所述输出端与待测液晶模组产品耦接。
在优选的实施方式中,所述第一信号为高频信号,相对应的,所述第一缓冲器为高速缓冲器;所述第二信号为低频信号,相对应的,所述第二缓冲器为低速缓冲器。
在优选的实施方式中,该液晶模组显示测试装置还包括:
通道切换开关,一端与低速缓冲器耦接,另一端与每个信号整合器耦接;
信号处理装置,与所述低速缓冲器耦接。
在优选的实施方式中,该液晶模组显示测试装置还包括:
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