[实用新型]光学检测机和双层玻璃检测平台

说明书

本实用新型公开了一种光学检测机和双层玻璃检测平台。光学检测机包括光学检测组件和工作台以及三轴运动机构；三轴运动机构用于带动光学检测组件和工作台进行三个方向上的相对运动；工作台用于承载检测对象；光学检测组件用于对检测对象的任意位置进行检测；其中，工作台为双层玻璃检测平台，包括：用于承载检测对象的下玻璃载板，和，用于压紧固定检测对象的上玻璃盖板；上玻璃盖板可从一侧翻起，且上玻璃盖板可相对于下玻璃载板抬升或下降。本实用新型的光学检测机，具有检测效率高，正确率高，可避免漏检，适用于多种不同厚度的PCB板等优点。

技术领域

本实用新型涉及光学检测技术领域，具体涉及一种光学检测机和双层玻璃检测平台。

背景技术

印制电路板(Printed Circuit Board，简称PCB)的制作过程通常会涉及到背钻工艺。背钻可以视为一种特殊的控深钻，即：在多层板的制作中，首先从正面进行一次钻，钻出通孔并沉铜，实现所有层的电连接；再从背面采用控深钻工艺对通孔进行二次钻(即背钻)，钻出孔径略大于过孔的背钻孔，将不需要电连接的过孔段的孔铜钻掉。

背钻工艺中正面和背面的钻孔需分为两次进行，二次钻大孔和一次钻小孔是否同心成为该工艺的关键。由于背钻孔对于信号的传输非常重要，因此需要对背钻孔与过孔的同心度、偏差度、孔内是否有异物堵塞、是否漏钻等进行检测。尤其在目前兴起的5G等行业的电路板，对于背钻孔的工艺要求更加严格，基本上涉及到背钻孔工艺的产品都需要全检。

但是，由于背钻孔结构特殊，行业内常用的孔位检测机等设备，无法对背钻孔进行检测。目前行业内对于PCB板背钻孔的检测，大多采用人工显微镜检测方式，人工比对难度大，人员易疲劳，具有检测效率低、正确率低和容易出现漏检等技术问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种光学检测机，实现对PCB板上背钻孔的自动检测，以提高检测效率低和正确率低，并避免漏检。本实用新型的目的还在于提供一种双层玻璃检测平台。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下。

本实用新型的第一方面，提供一种光学检测机，包括光学检测组件和工作台以及三轴运动机构；所述三轴运动机构，用于带动所述光学检测组件和所述工作台进行三个方向上的相对运动；所述工作台，用于承载检测对象；所述光学检测组件，用于对所述检测对象的任意位置进行检测；其中，所述工作台包括：用于承载检测对象的下玻璃载板，和，用于压紧固定所述检测对象的上玻璃盖板；所述上玻璃盖板可从一侧翻起，且所述上玻璃盖板可相对于所述下玻璃载板抬升或下降。

一种可能的实现方式中，所述工作台还包括杠杆结构和两组气缸，所述杠杆结构位于所述下玻璃载板的后端，所述两组气缸包括前气缸和后气缸；所述后气缸铰接于所述杠杆结构的第一端，所述上玻璃盖板的后端铰接于所述杠杆结构的第二端，所述前气缸抵顶于所述上玻璃盖板的前端；所述后气缸用于通过所述杠杆结构带动所述上玻璃盖板的后端抬升或下降，所述前气缸用于推动所述上玻璃盖板的前端向上翻起打开或向下闭合。

一种可能的实现方式中，所述前气缸的顶端设有带凹槽的抵顶座，所述上玻璃盖板的侧面设有突出轴，该突出轴落入所述抵顶座的凹槽内。

一种可能的实现方式中，所述上玻璃盖板包括盖板框架，设置在所述盖板框架上的夹持块，以及被所述夹持块夹持固定住的上玻璃；其中，所述夹持块被从自身所设通孔中穿过的导向柱可活动的设置在盖板框架上，所述夹持块沿导向柱长度方向在限定的范围内自由活动。

一种可能的实现方式中，所述三轴运动机构包括：Y轴运动机构，跨设在Y轴运动机构上方的X轴底座，设在X轴底座上的X轴运动机构，以及设在X轴运动机构上的Z轴运动机构；所述工作台由所述Y轴运动机构带动，所述光学检测组件由所述Z轴运动机构带动。