[实用新型]芯片电容电子元器件用倾斜式外观检测设备有效
| 申请号： | 202021943954.3 | 申请日： | 2020-09-08 |
| 公开（公告）号： | CN213148763U | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 陈垚;龚博;陈悦安;魏华良;罗星 | 申请（专利权）人： | 珠海市奥德维科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 519075 广东省珠海市前山沥溪工业园*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片 电容 电子元器件 倾斜 外观 检测 设备 | ||
1.一种芯片电容电子元器件用倾斜式外观检测设备，包括基台（1），其特征在于，所述基台（1）的顶部固接有安装板（2），所述安装板（2）靠近顶端的外侧壁固接有安装座（3），所述安装座（3）上转动连接有第一滑台（4），所述第一滑台（4）上固接有固定座（12），所述固定座（12）上固接有检测部，所述安装板（2）的侧壁还滑动连接有第二滑台（5），所述安装板（2）的侧壁还设有伸缩组件，所述伸缩组件的伸缩端与第二滑台（5）的底端转动相连。
2.根据权利要求1所述的芯片电容电子元器件用倾斜式外观检测设备，其特征在于，所述伸缩组件包括螺纹座（6），所述螺纹座（6）固接在安装板（2）的侧壁，所述螺纹座（6）内螺纹连接有调节螺杆（7），所述调节螺杆（7）的旋入端与第二滑台（5）转动相连。
3.根据权利要求2所述的芯片电容电子元器件用倾斜式外观检测设备，其特征在于，所述安装座（3）上连接有光源（8）。
4.根据权利要求3所述的芯片电容电子元器件用倾斜式外观检测设备，其特征在于，所述检测部包括高速相机（9）和变焦镜头（10），所述高速相机（9）固接在第一滑台（4）上，所述变焦镜头（10）安装在高速相机（9）靠近光源（8）的一侧。
5.根据权利要求1-4任一项所述的芯片电容电子元器件用倾斜式外观检测设备，其特征在于，所述基台（1）与安装板（2）之间还固接有加强板（11）。
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