[实用新型]一种标准试样尺寸测量系统有效

专利信息
申请号: 202021829372.2 申请日: 2020-08-27
公开(公告)号: CN212082286U 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: 吴博;庞承焕;程春锋;李卫领;肖星 申请(专利权)人: 国高材高分子材料产业创新中心有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙) 44486 代理人: 李兴生
地址: 510663 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 标准 试样 尺寸 测量 系统
【说明书】:

为了解决现有技术中针对试样的测量方式存在无法对试样分类的问题,本实用新型提供一种标准试样尺寸测量系统,包括机架、传送机械手、上位机以及设置在机架上的扫码组件、固定组件、喷码组件、测量组件。本实用新型所述的装置通过视觉装置或工作站预置样品类型数据库,通过测量结果及数据库的对照,解决了不同类型样品同时进行尺寸测量时的试样类型识别,分类,打码等问题,减少了人工识别的时间及失误。

技术领域

本实用新型涉及材料性能检测领域,尤其涉及一种标准试样尺寸测量系统。

背景技术

标准试样实际上就是对物质提供一个或多个量值作为其他测量值是否准确的参照值。所以,对于试样的测量要求较高。

现有检测试样的尺寸测量,一种是采用千分尺、游标卡尺,另一种自动测量系统,通过将光栅尺、千分表等集成到自动控制机构上,实现了高精度,自动化的测量。但是,现有的测量系统无法对试样进行分类,需要通过人工进行分类,导致数据杂乱,后期管理混乱。

总之,现有的针对试样的测量方式存在无法对试样分类的问题,造成了数据混乱,不便于查询和管理。

实用新型内容

为了解决现有技术中针对试样的测量方式存在无法对试样分类的问题,本实用新型提供一种标准试样尺寸测量系统,能够有效解决上述问题。

为了实现上述目的,本实用新型采用的具体方案为一种标准试样尺寸测量系统,包括机架、传送机械手、上位机以及设置在机架上的扫码组件、固定组件、喷码组件、测量组件;其中,所述的上位机与扫码组件电性连接,用于采集样品的来料信息;其中,所述的上位机与固定组件电性连接,用于检测样品是否到位并控制固定组件对样品进行固定;其中,所述的上位机与喷码组件连接,用于控制喷码组件向样品喷涂唯一的二维码;其中,所述的上位机与测量组件电性连接,用于采集样品的尺寸数据,并根据该尺寸信息判断样品的类型;其中,所述的上位机与传送机械手电性连接,用于在样品放置在固定组件上完成定位后和判断样品的类型后,将样品输送到下一个工位。

在一个具体的实施例中,所述的扫码组件包括与上位机电性连接的扫码枪或包括与上位机电性连接的扫码单元和设置在机架上的门型的扫码支架;其中,扫码单元设置在扫码支架的横梁上且检测端朝向下方设置。

在一个具体的实施例中,所述的固定组件包括设置在机架上的底板、负压单元、定位单元;其中,所述的底板的边沿设置有一列至少两个定位单元且该底板的中部设置有用于吸附样品的通风孔;所述的通风孔与负压单元的输出端连接;

其中,所述的定位单元与传送机械手上的定位装置进行配合,用于将样品放置在需要的位置;其中,所述的负压单元与上位机电性连接,用于在传送机械手将样品放置在指定位置后控制负压单元工作。

在一个具体的实施例中,所述的测量组件包括用于测量样品厚度的第一滑轨机构、用于测量样品长度和宽度的第二滑轨机构以及用于设置第一滑轨机构、第二滑轨机构的固定框体;其中,所述的固定框体设置在机架上且可沿着机架作直线运动;该固定框体垂直地面的侧面上设置有第一滑轨机构;固定框体远离固定组件的侧面上设置有第二滑轨机构且该第二滑轨机构可沿固定框体作直线运动且第二滑轨机构的运动方向与固定框体的运动方向垂直。

在一个具体的实施例中,所述的第一滑轨机构、第二滑轨机构中均包括驱动电机、第一导轨、第二导轨、滑块、螺杆以及测量元件;其中,所述的第一导轨、第二导轨可拆卸的设置在固定框体上;第一导轨、第二导轨之间间隙设置滑块;滑块朝向样品的一端设置测量元件且远离样品的一端设置有螺纹孔;所述的滑块上的螺纹孔与螺杆对应设置;螺杆的一端与驱动电机的输出端连接,另一端通过固定座设置在固定框体上。

在一个具体的实施例中,所述的固定组件包括设置在机架上的透明的底板和定位单元以及照明单元;

所述的测量组件包括CCD线阵;

其中,所述的底板的边沿设置有一列至少两个定位单元;

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