[实用新型]一种接触式硅片测厚仪有效
| 申请号: | 202021732344.9 | 申请日: | 2020-08-18 | 
| 公开(公告)号: | CN212843486U | 公开(公告)日: | 2021-03-30 | 
| 发明(设计)人: | 郑双飞 | 申请(专利权)人: | 无锡万奈特测量设备有限公司 | 
| 主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08 | 
| 代理公司: | 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 | 代理人: | 聂启新 | 
| 地址: | 214192 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 接触 硅片 测厚仪 | ||
1.一种接触式硅片测厚仪,包括测量平台(1),其特征在于:所述测量平台(1)上表面固定支撑立柱(2),所述支撑立柱(2)上端面通过连接件可拆卸的连接显示器(3),支撑立柱(2)一侧连接悬臂(4);所述悬臂(4)一侧上部通过连接件可拆卸的连接上安装座(5),悬臂(4)一侧下部通过连接件可拆卸的连接下安装座(6),下安装座(6)上通过销轴转动连接与悬臂(4)相互垂直设置的活动座(7)的转动端,活动座(7)的拨动端通过连接件可拆卸的连接拨片(8);所述活动座(7)的拨动端和上安装座(5)之间设有弹性组件;所述活动座(7)的拨动端通过连接件可拆卸的连接支撑板(14),所述上安装座(5)内竖直设置能够上下滑动的位移传感器(17),位移传感器(17)下端连接测头(16),位移传感器(17)的线缆电连接显示器(3);所述位移传感器(17)上套装挡环(15),支撑板(14)一端延伸到挡环(15)下端面并托起挡环(15)。
2.如权利要求1所述的一种接触式硅片测厚仪,其特征在于:所述弹性组件包括竖直设置的拉簧(9),拉簧(9)上端连接上拉簧座(10),上拉簧座(10)通过螺纹连接在上安装座(5)上,拉簧(9)下端连接下拉簧座(11),下拉簧座(11)通过螺纹连接在活动座(7)的拨动端。
3.如权利要求1所述的一种接触式硅片测厚仪,其特征在于:所述活动座(7)的拨动端上固定连接挂钩(12),上安装座(5)上固定连接限位板(13),限位板(13)位于挂钩(12)一侧。
4.如权利要求3所述的一种接触式硅片测厚仪,其特征在于:所述悬臂(4)上通过连接件可拆卸的连接微动开关支架(18),微动开关支架(18)上通过连接件可拆卸的连接微动开关(19),微动开关(19)位于挂钩(12)的下压路径上。
5.如权利要求1所述的一种接触式硅片测厚仪,其特征在于:所述上安装座(5)上端面通过连接件可拆卸的连接传感器保护套(20),传感器保护套(20)上端连接线缆耐扭保护接头(21)。
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