[实用新型]一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪

说明书

本实用新型公开了一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，涉及到晶闸管测试领域，包括壳体和测试仪主体，壳体的内部设有横向设置的安装板，安装板的下端通过减震机构与壳体的下内侧壁连接，测试仪主体的下端通过卡接机构与安装板连接，壳体的左右两侧均开设有开口，两个开口的内部均通过弹簧合页转动连接有挡板，两个挡板相反的两侧均开设有两个对称分布的接线口，壳体的前侧为开通设置，且壳体的前侧通过两组铰链转动连接有两个箱门，两个箱门通过箱体扣件相互连接。本实用新型便于人们对晶闸管测试仪进行携带，且在携带时能够对测试仪主体进行缓冲减震，避免对测试仪主体造成损坏，还便于对测试仪主体进行拆装，便于人们使用。

技术领域

本实用新型涉及晶闸管测试领域，特别涉及一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪。

背景技术

晶闸管是晶体闸流管的简称，又可称做可控硅整流器，以前被简称为可控硅；1957年美国通用电气公司开发出世界上第一款晶闸管产品，并于1958 年将其商业化；晶闸管是PNPN四层半导体结构，它有三个极：阳极，阴极和门极；晶闸管具有硅整流器件的特性，能在高电压、大电流条件下工作，且其工作过程可以控制、被广泛应用于可控整流、交流调压、无触点电子开关、逆变及变频等电子电路中。

目前，晶闸管在使用时，一般需要通过测试仪进行测试，晶闸管测试仪是用于测量晶闸管的通态、断态、控制极常用静态参数的综合性参数测量仪器，此仪器可以快速、准确、全面的对晶闸管进行参数测试和分析测试，而现有技术中，晶闸管测试仪一般直接放置在支架或桌面上进行使用，不便于人们进行携带，且在携带时，容易造成损坏。

因此，发明一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪来解决上述问题很有必要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，以解决上述背景技术中提出的晶闸管测试仪一般直接放置在支架或桌面上进行使用，不便于人们进行携带，且在携带时，容易造成损坏的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，包括壳体和测试仪主体，所述壳体的内部设有横向设置的安装板，所述安装板的下端通过减震机构与壳体的下内侧壁连接，所述测试仪主体的下端通过卡接机构与安装板连接，所述壳体的左右两侧均开设有开口，两个所述开口的内部均通过弹簧合页转动连接有挡板，两个所述挡板相反的两侧均开设有两个对称分布的接线口，所述壳体的前侧为开通设置，且壳体的前侧通过两组铰链转动连接有两个箱门，两个所述箱门通过箱体扣件相互连接；

所述减震机构包括两个固定板，两个所述固定板分别与安装板的下侧中部及壳体的下内侧壁固定连接，两个所述固定板之间固定连接有减震弹簧，所述壳体的左右两个内侧壁均固定连接有导轨，所述安装板的左右两侧均开设有与导轨相匹配的导向槽。

优选的，两个所述固定板相对的两侧左右两端均通过第一轴销转动连接有连接杆，同侧两个所述连接杆之间通过第二轴销相互转动来接。

优选的，两个所述导向槽的内部均通过转轴转动连接有滑轮，两个所述滑轮分别与两个导轨滚动连接。

优选的，所述卡接机构包括两个插板和两个卡杆，两个所述插板分别与测试仪主体的下端左右两侧固定连接，所述安装板的上端开设有两个与插板相匹配的第一插口，且两个插板的下端均穿过两个第一插口并延伸至安装板的下方，两个所述卡杆均位于安装板的下方并分别位于两个插板的两侧，两个所述卡杆的上端中部均固定连接有滑块，所述安装板的下端开设有两个与滑块相匹配的滑槽，两个所述滑块均通过通孔滑动连接有滑杆，所述滑杆的左右两端分别与滑槽的左右两侧固定连接，两个所述滑块相反的两端均固定连接有卡接弹簧，两个所述卡接弹簧分别与两个滑杆活动套接，两个所述卡杆相对的两端均为倾斜设置，两个所述插板相反的两侧均开设有与卡杆相匹配的卡槽。

优选的，两个所述卡杆的下侧均设有防滑纹，所述安装板的上端固定连接有减震垫，所述减震垫通过两个第二插口与两个插板活动插接。