[实用新型]一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪

权利要求书

1.一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，其特征在于：包括壳体(1)和测试仪主体(2)，所述壳体(1)的内部设有横向设置的安装板(3)，所述安装板(3)的下端通过减震机构与壳体(1)的下内侧壁连接，所述测试仪主体(2)的下端通过卡接机构与安装板(3)连接，所述壳体(1)的左右两侧均开设有开口，两个所述开口的内部均通过弹簧合页转动连接有挡板(4)，两个所述挡板(4)相反的两侧均开设有两个对称分布的接线口，所述壳体(1)的前侧为开通设置，且壳体(1)的前侧通过两组铰链转动连接有两个箱门(5)，两个所述箱门(5)通过箱体扣件(6)相互连接；

所述减震机构包括两个固定板(7)，两个所述固定板(7)分别与安装板(3)的下侧中部及壳体(1)的下内侧壁固定连接，两个所述固定板(7)之间固定连接有减震弹簧(8)，所述壳体(1)的左右两个内侧壁均固定连接有导轨(9)，所述安装板(3)的左右两侧均开设有与导轨(9)相匹配的导向槽。

2.根据权利要求1所述的一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，其特征在于：两个所述固定板(7)相对的两侧左右两端均通过第一轴销转动连接有连接杆(10)，同侧两个所述连接杆(10)之间通过第二轴销相互转动来接。

3.根据权利要求1所述的一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，其特征在于：两个所述导向槽的内部均通过转轴转动连接有滑轮(11)，两个所述滑轮(11)分别与两个导轨(9)滚动连接。

4.根据权利要求1所述的一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，其特征在于：所述卡接机构包括两个插板(12)和两个卡杆(13)，两个所述插板(12)分别与测试仪主体(2)的下端左右两侧固定连接，所述安装板(3)的上端开设有两个与插板(12)相匹配的第一插口，且两个插板(12)的下端均穿过两个第一插口并延伸至安装板(3)的下方，两个所述卡杆(13)均位于安装板(3)的下方并分别位于两个插板(12)的两侧，两个所述卡杆(13)的上端中部均固定连接有滑块(14)，所述安装板(3)的下端开设有两个与滑块(14)相匹配的滑槽，两个所述滑块(14)均通过通孔滑动连接有滑杆(15)，所述滑杆(15)的左右两端分别与滑槽的左右两侧固定连接，两个所述滑块(14)相反的两端均固定连接有卡接弹簧(16)，两个所述卡接弹簧(16)分别与两个滑杆(15)活动套接，两个所述卡杆(13)相对的两端均为倾斜设置，两个所述插板(12)相反的两侧均开设有与卡杆(13)相匹配的卡槽。

5.根据权利要求4所述的一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，其特征在于：两个所述卡杆(13)的下侧均设有防滑纹，所述安装板(3)的上端固定连接有减震垫(17)，所述减震垫(17)通过两个第二插口与两个插板(12)活动插接。

6.根据权利要求1所述的一种测试可控硅参数的晶闸管测试仪，其特征在于：所述壳体(1)的上端中部固定连接有U形提手(18)。