[实用新型]一种新型一体式测试探针针座

说明书

本实用新型公开了一种新型一体式测试探针针座，包括载板、浮动板、等高螺丝和针板，所述载板上端中部设置有所述浮动板，所述浮动板上端中部设置有一体式测试探针，所述一体式测试探针外围设置有所述针板，所述浮动板上端四角处设置有所述等高螺丝。有益效果在于：本实用新型通过浮动板、等高螺丝、弹簧、针板以及一体式测试探针的设计，不仅使得该针座能够满足小间距大电流的一体式探测探针的安装需求，而且能够在测试过程中通过等高螺丝来实现针座与外部被测连接器的精准定位，同时也能够在测试完成后对一体式测试探针进行保护，不会对外部被测连接器产生任何扎痕，极大的保证了测试结果的可靠性和测试效果的稳定性。

技术领域

本实用新型涉及小间距大电流连接器测试技术领域，具体涉及一种新型一体式测试探针针座。

背景技术

之前，在半导体集成电路检测电子元器件导通性能时，为了实现检测对象与输出信号之间的电气连接，通常使用弹簧探针测试针座。随着电子科技的发展，电子产品的体积越来越小，体型越来越薄，内部空间电子元器件越来越密集。对测试针座的精度要求越来越高，测试间距要求越来越小。

然而现有的测试探针针座在使用过程中无法与外部被测连接器进行精准定位，同时也无法对测试探针进行有效保护，容易使得被测连接器连接不稳定，并在被测连接器上产生扎痕，降低测试结果的可靠性和测试效果的稳定性，此外，针座结构较为复杂，在小间距大电流测试领域实用性不足，因此急需一种新型的一体式测试探针针座来解决现有问题。

实用新型内容

(一)要解决的技术问题

为了克服现有技术不足，现提出一种新型一体式测试探针针座，解决了现有的测试探针针座在使用过程中无法与外部被测连接器进行精准定位，同时也无法对测试探针进行有效保护，容易使得被测连接器连接不稳定，并在被测连接器上产生扎痕，降低测试结果的可靠性和测试效果的稳定性，此外，针座结构较为复杂，在小间距大电流测试领域实用性不足的问题。

(二)技术方案

本实用新型通过如下技术方案实现：本实用新型提出了一种新型一体式测试探针针座，包括载板、浮动板、等高螺丝和针板，所述载板上端中部设置有所述浮动板，所述浮动板上端中部设置有一体式测试探针，所述一体式测试探针外围设置有所述针板，所述浮动板上端四角处设置有所述等高螺丝，所述等高螺丝与所述载板之间设置有弹簧。

通过采用上述技术方案，所述等高螺丝及所述弹簧控制所述浮动板的压缩行程，在针座没有与被测连接器接触时，所述浮动板被所述弹簧顶出来，所述一体式测试探针收缩在针座里面，用于保护所述一体式测试探针。

进一步的，所述浮动板与所述载板通过所述等高螺丝相连，所述等高螺丝贯穿所述弹簧。

通过采用上述技术方案，所述浮动板根据被测连接器的外形加工出定位槽，定位槽尺寸比连接器尺寸大0.03-0.04mm，确保每一片所述一体式测试探针的针头与被测连接器的触点对应接触。

进一步的，所述针板与所述载板通过卡压的方式相连，所述针板之间通过螺钉连接，所述一体式测试探针与所述针板通过卡压的方式相连。

通过采用上述技术方案，所述针板按照所述一体式测试探针外形尺寸加工装针空间，多片所述针板堆叠起来，通过销钉组装成一个装针模块，形成多个装针空间，空间形状与所述一体式测试探针外形保持一致。

进一步的，所述针板之间的装针空间比所述一体式测试探针外形尺寸大0.04-0.08mm。

进一步的，所述针板采用防静电PEEK材料制成，所述浮动板采用PAI板材制成，所述一体式测试探针采用电铸工艺一次加工成型，表面镀金。

通过采用上述技术方案，不仅使得所述一体式测试探针结构简单，加工工艺简单，而且使得所述一体式测试探针可以导通2.5A的大电流，探针寿命可达30万次，探针阻值稳定。