[实用新型]一种新型一体式测试探针针座有效

专利信息
申请号: 202021534803.2 申请日: 2020-07-29
公开(公告)号: CN213023253U 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 杨亚坤;黄勇 申请(专利权)人: 上海承盛电子科技有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R31/66
代理公司: 深圳至诚化育知识产权代理事务所(普通合伙) 44728 代理人: 刘英
地址: 201612 上海市松*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 体式 测试 探针
【权利要求书】:

1.一种新型一体式测试探针针座,其特征在于:包括载板(2)、浮动板(3)、等高螺丝(4)和针板(1),所述载板(2)上端中部设置有所述浮动板(3),所述浮动板(3)上端中部设置有一体式测试探针(6),所述一体式测试探针(6)外围设置有所述针板(1),所述浮动板(3)上端四角处设置有所述等高螺丝(4),所述等高螺丝(4)与所述载板(2)之间设置有弹簧(5)。

2.根据权利要求1所述的一种新型一体式测试探针针座,其特征在于:所述浮动板(3)与所述载板(2)通过所述等高螺丝(4)相连,所述等高螺丝(4)贯穿所述弹簧(5)。

3.根据权利要求1所述的一种新型一体式测试探针针座,其特征在于:所述针板(1)与所述载板(2)通过卡压的方式相连,所述针板(1)之间通过螺钉连接,所述一体式测试探针(6)与所述针板(1)通过卡压的方式相连。

4.根据权利要求1所述的一种新型一体式测试探针针座,其特征在于:所述针板(1)之间的装针空间比所述一体式测试探针(6)外形尺寸大0.04-0.08mm。

5.根据权利要求1所述的一种新型一体式测试探针针座,其特征在于:所述针板(1)采用防静电PEEK材料制成,所述浮动板(3)采用PAI板材制成,所述一体式测试探针(6)采用电铸工艺一次加工成型,表面镀金。

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