[实用新型]一种芯片测试系统和芯片自动测试台

权利要求书

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：取料机构、测试定位机构和加电机构；

所述取料机构位于所述测试定位机构的一侧，用以将取得的芯片放至所述测试定位机构上并在测试完成之后取走所述芯片；

所述加电机构位于所述测试定位机构的另一侧，用以给所述测试定位机构上的所述芯片进行加电；

所述测试定位机构包括载物台，所述载物台上设置有用以放置芯片的承载面，所述承载面上凸设有凸台，用以将芯片放置于所述凸台的台面上，载物台上对应所述凸台设置有限位装置，所述限位装置用以限制芯片脱离所述凸台和矫正芯片的位置。

2.根据权利要求1所述芯片测试系统，其特征在于，所述测试定位机构还包括基座和旋转座，所述旋转座旋转安装于所述基座，所述载物台固定安装于所述旋转座上，且所述载物台沿所述旋转座的旋转方向间隔设置有多个。

3.根据权利要求2所述芯片测试系统，其特征在于，所述载物台包括两个，两个所述载物台上的凸台在与所述旋转座的旋转轴线垂直的方向上相对，每一所述载物台上的凸台位于每一所述载物台远离所述旋转座的旋转轴线的一端。

4.根据权利要求2所述芯片测试系统，其特征在于，所述旋转座对应多个所述载物台凸设有多个立柱，多个所述载物台分别设置于多个所述立柱上。

5.根据权利要求1-4任一项所述芯片测试系统，其特征在于，所述限位装置包括两个能沿所述凸台的宽度方向移动的夹持件，所述凸台的宽度大于所述芯片的宽度，两个所述夹持件分别设置于所述凸台的宽度方向的两侧，两个所述夹持件具有相互靠拢的限位状态以及相互远离的释放状态。

6.根据权利要求1-4任一项所述芯片测试系统，其特征在于，所述加电机构包括探针和探针支座，所述探针的一端固定于所述探针支座，另一端用以与芯片的相接触。

7.根据权利要求6所述芯片测试系统，其特征在于，所述探针包括加电段和固定段，所述加电段的一端可拆卸安装于所述固定段的一端，所述加电段远离所述固定段的一端用以与所述芯片相接触，所述固定段远离所述加电段的一端用以固定于所述探针支座并与电源装置电性连接。

8.根据权利要求1-4任一项所述芯片测试系统，其特征在于，还包括移动机构，所述取料机构包括吸嘴和机架，所述机架安装于所述移动机构，所述吸嘴固定于所述机架，所述移动机构用于驱动所述机架以带动所述吸嘴在取料位与下料位之间移动。

9.根据权利要求8所述芯片测试系统，其特征在于，所述吸嘴设置有吸气通道，所述吸嘴具有用以吸取所述芯片的吸取端，所述吸取端的端面上凸设有多个用以与所述芯片的非功能区接触的接触脚，每一所述接触脚的自由端的端面上设置有与所述吸气通道连通的吸气口，多个所述接触脚相互间隔，以在任意相邻两个所述接触脚之间形成避让空间。

10.一种芯片自动测试台，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述的芯片测试系统。