[实用新型]一种多功能的测量尺有效

专利信息
申请号: 202021412570.9 申请日: 2020-07-17
公开(公告)号: CN212300188U 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 莫兵兵 申请(专利权)人: 上海艾为电子技术股份有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01B5/24;G01D21/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆宗力
地址: 201199 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 多功能 测量
【说明书】:

实用新型提供了一种多功能的测量尺,所述测量尺包括:基板;及位于所述基板相对的第一表面和第二表面中至少一表面的结构层,且结构层划分有多个功能区域,所述功能区域为计算公式区域、角度测量区域、直线段测量区域、走线宽度实例区域、电阻信息区域、走线电流及温升信息区域、单位换算公式区域、产品线信息区域或封装实例区域。本实用新型提供的技术方案,测量尺包括多个功能区域,且功能区域可以为计算公式区域、角度测量区域、直线段测量区域、走线宽度实例区域、电阻信息区域、走线电流信息区域、温升信息区域、单位换算公式区域、产品线信息区域或封装实例区域,进而能够扩充测量尺的功能,使其适用于更专业领域中的数据测量。

技术领域

本实用新型涉及测量工具技术领域,更为具体地说,涉及一种多功能的测量尺。

背景技术

测量尺能够用来测量待测结构的尺寸等数据,有助于人们更好的了解待测结构。现有测量尺通常分为角度测量尺、直线段测量尺等类别,其中角度测量尺能够测量待测结构某区域的角度,而直线段测量尺能够测量待测结构某区域的长度。现有的测量尺的功能单一,无法适用于专业领域中的数据测量,如半导体技术领域等。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型提供了一种多功能的测量尺,有效解决现有技术存在的技术问题,扩充了测量尺的功能,使其适用于更专业领域中的数据测量。

为实现上述目的,本实用新型提供的技术方案如下:

一种多功能的测量尺,所述测量尺包括:

基板;

及位于所述基板相对的第一表面和第二表面中至少一表面的结构层,所述结构层划分有多个功能区域,所述功能区域为计算公式区域、角度测量区域、直线段测量区域、走线宽度实例区域、电阻信息区域、走线电流及温升信息区域、单位换算公式区域、产品线信息区域或封装实例区域。

可选的,所述基板包括直线棱边,其中,所述直线段测量区域包括由多个刻度线组成的第一直线段测量子区域;

其中,所述第一直线段测量子区域设置于所述第一表面侧,且所述第一直线段测量子区域的刻度线沿所述直线棱边的延伸方向设置。

可选的,所述直线段测量区域还包括由多个刻度线组成的第二直线段测量子区域;

其中,所述第二直线段测量子区域设置于所述第二表面侧,且所述第二直线段测量子区域的刻度线沿所述直线棱边依次设置,所述第一直线段测量子区域的刻度与所述第二直线段测量子区域的刻度不同。

可选的,所述角度测量区域包括第一角度测量子区域,所述第一角度测量子区域设置于所述第一表面侧;

其中,所述第一角度测量子区域包括均由多个刻度线组成为半圆状的第一测量区至第N测量区,所述第一测量区至第N测量区的中心点相同,且第i+1测量区位于第i测量区域背离所述中心点一侧,至少一所述测量区的刻度与其余测量区的刻度不同,N为不小于1的整数,i为不大于N的正整数。

可选的,所述角度测量区域还包括第二角度测量子区域,所述第二角度测量子区域设置于所述第二表面侧,所述第二角度测量子区域与所述第一角度测量子区域相同,且所述第二角度测量子区域与所述第一角度测量子区域相对设置。

可选的,所述测量尺对应所述中心点处为镂空区;

及所述中心点外实体部至所述第一测量区之间和任意相邻两所述测量区之间为镂空区。

可选的,所述基板为非透明基板。

可选的,所述基板为PCB板。

可选的,所述PCB板设有阻焊层,所述阻焊层为黑色油墨层。

可选的,所述结构层的材质为铜箔。

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