[实用新型]一种多功能的测量尺有效

专利信息
申请号: 202021412570.9 申请日: 2020-07-17
公开(公告)号: CN212300188U 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 莫兵兵 申请(专利权)人: 上海艾为电子技术股份有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02;G01B5/24;G01D21/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆宗力
地址: 201199 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 多功能 测量
【权利要求书】:

1.一种多功能的测量尺,其特征在于,所述测量尺包括:

基板;

及位于所述基板相对的第一表面和第二表面中至少一表面的结构层,所述结构层划分有多个功能区域,所述功能区域为计算公式区域、角度测量区域、直线段测量区域、走线宽度实例区域、电阻信息区域、走线电流及温升信息区域、单位换算公式区域、产品线信息区域或封装实例区域。

2.根据权利要求1所述的多功能的测量尺,其特征在于,所述基板包括直线棱边,其中,所述直线段测量区域包括由多个刻度线组成的第一直线段测量子区域;

其中,所述第一直线段测量子区域设置于所述第一表面侧,且所述第一直线段测量子区域的刻度线沿所述直线棱边的延伸方向设置。

3.根据权利要求2所述的多功能的测量尺,其特征在于,所述直线段测量区域还包括由多个刻度线组成的第二直线段测量子区域;

其中,所述第二直线段测量子区域设置于所述第二表面侧,且所述第二直线段测量子区域的刻度线沿所述直线棱边依次设置,所述第一直线段测量子区域的刻度与所述第二直线段测量子区域的刻度不同。

4.根据权利要求1所述的多功能的测量尺,其特征在于,所述角度测量区域包括第一角度测量子区域,所述第一角度测量子区域设置于所述第一表面侧;

其中,所述第一角度测量子区域包括均由多个刻度线组成为半圆状的第一测量区至第N测量区,所述第一测量区至第N测量区的中心点相同,且第i+1测量区位于第i测量区域背离所述中心点一侧,至少一所述测量区的刻度与其余测量区的刻度不同,N为不小于1的整数,i为不大于N的正整数。

5.根据权利要求4所述的多功能的测量尺,其特征在于,所述角度测量区域还包括第二角度测量子区域,所述第二角度测量子区域设置于所述第二表面侧,所述第二角度测量子区域与所述第一角度测量子区域相同,且所述第二角度测量子区域与所述第一角度测量子区域相对设置。

6.根据权利要求4或5所述的多功能的测量尺,其特征在于,所述测量尺对应所述中心点处为镂空区;

及所述中心点外实体部至所述第一测量区之间和任意相邻两所述测量区之间为镂空区。

7.根据权利要求1所述的多功能的测量尺,其特征在于,所述基板为非透明基板。

8.根据权利要求1所述的多功能的测量尺,其特征在于,所述基板为PCB板。

9.根据权利要求8所述的多功能的测量尺,其特征在于,所述PCB板设有阻焊层,所述阻焊层为黑色油墨层。

10.根据权利要求1所述的多功能的测量尺,其特征在于,所述结构层的材质为铜箔。

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