[实用新型]一种航天器热控涂层测量装置有效

专利信息
申请号: 202021373760.4 申请日: 2020-07-14
公开(公告)号: CN212844994U 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 刘静;贾爽 申请(专利权)人: 天津市拓普仪器有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N21/01
代理公司: 天津市杰盈专利代理有限公司 12207 代理人: 赵敬
地址: 300350 天津市*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 航天器 涂层 测量 装置
【说明书】:

本实用新型属于涂层材料分析仪器技术领域,尤其涉及一种航天器热控涂层测量装置,其包括所述样品光入口导入的样品光通过被测样品表面的热控涂层漫反射至积分球内的接收器以形成被测样品的反射光谱,本实用新型解决了现有技术存在航天器热控涂层的实验室测量方式测量不便捷的问题,具有测量方便快捷、光源波动影响小、测量范围宽、漫反射测量的有益技术效果。

技术领域

本实用新型属于涂层材料分析仪器技术领域,尤其涉及一种航天器热控涂层测量装置。

背景技术

目前,航天器热控涂层测量主要依靠实验室搭建的测量装置,按照中华人民共和国国家军用标准GJB2502.2-2006《航天器热控涂层试验方法第2部分:太阳吸收比测试》中的光谱法测量方法规定要求,被测样品需要积分球附件进行漫反射测量,现有技术存在航天器热控涂层的实验室测量方式测量不便捷的问题。

发明内容

本实用新型提供一种航天器热控涂层测量装置,以解决上述背景技术中提出了现有技术存在航天器热控涂层的实验室测量方式测量不便捷的问题。

本实用新型所解决的技术问题采用以下技术方案来实现:一种航天器热控涂层测量装置,包括样品室,所述样品室一侧壁表面分别设置参比光入口和样品光入口,所述样品室内设置参比光反射镜组,所述样品室内置积分球,所述积分球的样品侧光路设置被测样品,其参比侧光路设置参比白板,所述参比光入口导入的参比光通过参比光反射镜组折射至参比白板后漫反射到积分球内的接收器形成光源波动基线,所述样品光入口导入的样品光通过被测样品表面的热控涂层漫反射至积分球内的接收器以形成被测样品的反射光谱。

进一步,所述反射光谱的测量波段范围为200nm~2800nm。

进一步,所述标准白板的入射角或被测样品表面的入射角为8°。

进一步,所述积分球直径为60mm。

进一步,所述参比光反射镜组包括若干可调整光路反射角度的反射镜。

有益技术效果:

1、本专利采用所述样品室一侧壁表面分别设置参比光入口和样品光入口,所述样品室内设置参比光反射镜组,所述样品室内置积分球,所述积分球的样品侧光路设置被测样品,其参比侧光路设置参比白板,所述参比光入口导入的参比光通过参比光反射镜组折射至参比白板后漫反射到积分球内的接收器形成光源波动基线,所述样品光入口导入的样品光通过被测样品表面的热控涂层漫反射至积分球内的接收器以形成被测样品的反射光谱,由于根据中华人民共和国国家军用标准GJB2502.2-2006《航天器热控涂层试验方法第2部分:太阳吸收比测试》中的光谱法测量方法规定,可以用光谱法相对测量,通过紫外可见近红外分光光度计测量出被测样品的太阳吸收比和太阳反射比,通过如下公式一(标准规定)得出试样的太阳光反射比;

如图3所示,采用积分球测量 P0为积分球标准白板数据,Pb为样品反射率,所以将计算公式分段:

通过计算机编程将上述公式分别带入程序中,用本测量装置测量出被测样品的反射光谱,并根据公式(3)计算得出试样的太阳光反射比;然后根据公式二计算得出太阳光吸收比,直接给出测量结果并形成检测报告;本测量装置可以测量波段范围200nm-2800nm,可以测量被测样品的透射光谱和反射光谱,配置积分球附件,可以测量被测样品的漫反射光谱,其操作方法包括:首先本装置的电源,本装置初始化完成后预热30分钟,然后,将样品和参比光两侧都放入标准白板,进行基线扫描;做好基线后,将被测样品放入样品侧光路,扫描漫反射光谱,将反射光谱导入到热控涂层测量选项中,生成检测报告,得到被测样品的太阳反射比和太阳吸收比,本发明使得测量涂层材料的太阳反射比和太阳吸收比测量更加方便快捷。

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